EMC系統(tǒng)測(cè)試工程服務(wù)至上,洋嘉電子自動(dòng)化測(cè)試

電磁干擾主要包括輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射。

輻射發(fā)射：通過(guò)空間以電磁波形式傳播的電磁干擾。

傳導(dǎo)發(fā)射：沿著導(dǎo)體傳播的電磁干擾。

測(cè)試場(chǎng)地：開(kāi)闊場(chǎng)、半電波暗室、屏蔽室。

電磁干擾測(cè)試主要設(shè)備：

1、電波暗室

2、接收機(jī)

3、接收天線(xiàn)

4、人工電源網(wǎng)絡(luò)

5、功率吸收嵌

6、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)

7、轉(zhuǎn)臺(tái)、升降臺(tái)控制器

EMC測(cè)試項(xiàng)目，EMC測(cè)試項(xiàng)目各項(xiàng)收費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)。

雜散定義：指用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試信號(hào)調(diào)制時(shí)在除載頻和由于正常調(diào)制和切換瞬態(tài)引起的邊帶及鄰道以外 離散頻率上的輻射（既遠(yuǎn)端輻射）。雜散輻射按其來(lái)源可分為傳導(dǎo)型和輻射型兩種。

傳導(dǎo)雜散：指在天線(xiàn)的接頭處50歐姆負(fù)載上測(cè)得的任意離散信號(hào)的電平功率。

輻射雜散：測(cè)試設(shè)備的機(jī)殼、結(jié)構(gòu)及互連電纜引起的雜散騷擾。測(cè)試條件在電波暗室內(nèi)進(jìn)行，或是在戶(hù)外進(jìn)行。

EMI（電磁騷擾）分射頻和工頻兩類(lèi)測(cè)試

1.射頻類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目：

1.1 射頻分傳導(dǎo)和輻射兩項(xiàng)測(cè)試射頻傳導(dǎo)（屏蔽室測(cè)試）

1.1.1 傳導(dǎo)分電壓和功率兩項(xiàng)測(cè)試

1.1.2 傳導(dǎo)電壓標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14、15、22

1.1.3 傳導(dǎo)功率標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、14

射頻輻射（電波暗室測(cè)試）

1.1.4 射頻輻射標(biāo)準(zhǔn)：CISPR11、22、IEC60571l

 工頻類(lèi)測(cè)試項(xiàng)目（實(shí)驗(yàn)室測(cè)試）

1.2 工頻分諧波和閃爍兩項(xiàng)測(cè)試工頻諧波

1.2.1 IEC6100-3-2工頻閃爍1.2.2 IEC6100-3-3