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根據(jù)再激勵(lì)熒光補(bǔ)正功能，觀察”真正德物性值”

包括再激勵(lì)熒光發(fā)光狀態(tài)下，不僅不能觀察材料本身的物性，也不能觀測(cè)到包含裝置的特性，無法求出真正的物性值。QE-2000通過利用積分半球的再激勵(lì)熒光補(bǔ)正的特點(diǎn)，可簡(jiǎn)單的測(cè)量出真正的物性值，且精度高。

什么是再激發(fā)熒光發(fā)光.

在熒光體樣品表面上反射的激發(fā)光

在積分球內(nèi)擴(kuò)散和反射并再次進(jìn)入熒光樣品以發(fā)射

更多光的現(xiàn)象。

通過低迷光多通道分光檢出器，降低紫外區(qū)域的迷光

以往的檢出器（多色儀），因檢測(cè)出的紫外區(qū)域的迷光很高，可以說不適合量子効率（量子收率）的測(cè)量。大塚電子開發(fā)出了去除迷光的技術(shù)，這個(gè)問題也得以解決。搭載在QE-2000上的多通道分光檢出器，與本公司以往的產(chǎn)品相比，迷光量約1/5，即使在紫外區(qū)域，測(cè)量的精度也非常高。

軟件

直觀明了、使用方便的專業(yè)軟件。組裝好樣品測(cè)量用cell便可輕松測(cè)量量子効率（量子收率）、激勵(lì)光譜等。

Option

? 自動(dòng)取樣器

? 樣品支架

①粉體測(cè)量用　SUS304制、有石英蓋子

②膜測(cè)量用　透過測(cè)量用樣品支架