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發(fā)布時(shí)間:2021-03-22 15:21  
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平板探測(cè)器與膠片的處理
平板探測(cè)器與膠片的處理過(guò)程不同,在每次檢測(cè)期間,不必更換膠片,僅僅需要幾秒鐘的數(shù)據(jù)采集,就可以在計(jì)算機(jī)上觀察到圖像,檢測(cè)速度和效率大大高于膠片成像技術(shù)。成像質(zhì)量也比圖像增強(qiáng)器好很多,不僅成像區(qū)均勻,沒(méi)有邊緣幾何變形,而且空間分辨率和靈敏度要高得多,其圖像質(zhì)量已接近或達(dá)到膠片照相水平。平板探測(cè)器是目前市面上X射線檢測(cè)設(shè)備較多使用的成像組件。適用場(chǎng)景廣泛,可用于離線設(shè)備也可用于在線設(shè)備,在線使用過(guò)程中采用間歇式的檢測(cè)方式也可以很好的對(duì)接企業(yè)產(chǎn)線,提高檢測(cè)效率。

調(diào)整金屬檢測(cè)設(shè)備靈敏度時(shí),探測(cè)盤(pán)(振蕩線圈)應(yīng)遠(yuǎn)離金屬
在使用金屬檢測(cè)設(shè)備之前,需要調(diào)整探桿的長(zhǎng)度。只要松開(kāi)黑色膠管,就把膠管套推拉到合適的長(zhǎng)度,然后轉(zhuǎn)動(dòng)內(nèi)膠管使電纜繃緊,手柄向上。后,黑色膠管被擰緊并鎖緊。這樣,當(dāng)握住探測(cè)器手柄時(shí),拇指正好挨著靈敏度調(diào)節(jié)電位計(jì)。調(diào)整金屬檢測(cè)設(shè)備靈敏度時(shí),探測(cè)盤(pán)(振蕩線圈)應(yīng)遠(yuǎn)離金屬,包括帶鋁箔的紙張,然后旋轉(zhuǎn)靈敏度微調(diào)電位器旋鈕(微調(diào)),打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),將其轉(zhuǎn)到一半位置。然后調(diào)整調(diào)諧旋鈕,停止揚(yáng)聲器的聲音。

極大的工藝缺陷覆蓋范圍自動(dòng)X射線檢測(cè)技術(shù)對(duì)工藝缺陷的覆蓋率高達(dá)97%,同時(shí)能觀察到其他測(cè)試手段無(wú)法可靠探測(cè)到的缺陷。較高的測(cè)試覆蓋度,自動(dòng)X 射線檢測(cè)技術(shù)可以對(duì)肉眼和在線測(cè)試(ICT)檢查不到的地方進(jìn)行檢查。X射線可穿過(guò)PCB板的基板材料,因此可同時(shí)對(duì)雙層板或多層板進(jìn)行檢測(cè),每一層的缺陷便可一目了然,極大地提升了光學(xué)檢測(cè)效率;