蔡司三坐標(biāo)檢測(cè)儀供應(yīng)價(jià)格合理 北京一測(cè)精密有限公司

蔡司 SPECTRUM 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)--高掃描測(cè)量平臺(tái)

新一代蔡司 SPECTRUM 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)不僅讓接觸式掃描測(cè)量技術(shù)成為蔡司全系列測(cè)量產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)配置，使得三坐標(biāo)測(cè)量真正來到了“全掃描”時(shí)代，而且通過創(chuàng)新的設(shè)計(jì)使得該系列產(chǎn)品擁有穩(wěn)定精度表現(xiàn)的同時(shí)，也大大提高了效率，靈活和人性化，是蔡司橋式三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)家族中高的一款產(chǎn)品。

SPECTRUM 技術(shù)特色：

1. 四面環(huán)抱的蔡司氣浮軸承實(shí)現(xiàn)了更好的穩(wěn)定性和測(cè)量精度

2. 集成減震系統(tǒng)，大大地?cái)U(kuò)展了產(chǎn)品的環(huán)境適用范圍

3. 控制柜，軟件，探頭和其它組件均采用先進(jìn)的材料和技術(shù)，造就了產(chǎn)品的良好品質(zhì)

4. 獨(dú)立于計(jì)算機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)控制面板允許操作者不需要計(jì)算機(jī)，只需測(cè)量機(jī)旁邊的搖桿就能進(jìn)行手動(dòng)定位。CNC運(yùn)行時(shí)，可通過速

度旋鈕隨時(shí)進(jìn)行速度控制

蔡司 ACCURA --解決方案與您共同成長(zhǎng)

1、前瞻性

模塊化的設(shè)計(jì)助力 ZEISS ACCURA 為滿足未來的需求做好準(zhǔn)備。 隨著對(duì)設(shè)備，傳感器和軟件的要求而不斷發(fā)展。由于對(duì)接觸式，光學(xué)傳感器以及掃描進(jìn)行了預(yù)布線，使得 ZEISS ACCURA 可即時(shí)具有多傳感器的能力。

2、重量輕，動(dòng)態(tài)高

ZEISS ACCURA 的橋架由鋼和鋁制成，雖然纖細(xì)但剛性佳。鋁制元件具備蔡司的CARAT涂層技術(shù)，大大改善了溫度穩(wěn)定性并延長(zhǎng)了使用壽命。移動(dòng)部件的重量減輕，提高了機(jī)器的動(dòng)態(tài)剛性。

3、溫度范圍20度至26度

ZEISS ACCURA 橋架具有性能佳的泡沫結(jié)緣技術(shù)。外殼具備絕緣特性并具有小厚度。這一特性使得操作者可以在20度至26度之間自由選擇測(cè)量室溫度。

4、精度無處不在

ZEISS ACCURA 在每個(gè)尺寸測(cè)量中都具有大的測(cè)量范圍。從而多方面實(shí)現(xiàn)測(cè)量的精度。

5、VAST navigator 技術(shù)

ZEISS ACCURA 標(biāo)準(zhǔn)配置采用 VAST navigator 技術(shù)，可以更快進(jìn)行校準(zhǔn)，逼近和掃描，并提高了精度。

蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的應(yīng)用

模具行業(yè)

三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在模具行業(yè)中的應(yīng)用相當(dāng)廣泛，它是一種設(shè)計(jì)開發(fā)、檢測(cè)、統(tǒng)計(jì)分析的現(xiàn)代化的智能工具，更是模具產(chǎn)品的質(zhì)量技術(shù)保障的有效工具。

具體來說，在模具制造企業(yè)中應(yīng)用測(cè)量機(jī)完成設(shè)計(jì)和檢測(cè)任務(wù)時(shí)，要密切關(guān)注測(cè)量基準(zhǔn)的選擇、測(cè)頭的標(biāo)定和選擇、測(cè)點(diǎn)數(shù)及測(cè)量位置的規(guī)劃、坐標(biāo)系的建立、環(huán)境的影響、局部幾何特征的影響、CNC控制參數(shù)等多方面的因素。這當(dāng)中的每一個(gè)因素，都足以影響測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確和效率。

三坐標(biāo)測(cè)頭

光學(xué)測(cè)頭相比接觸式測(cè)頭還有另一方面的優(yōu)勢(shì)。接觸式測(cè)頭采點(diǎn)時(shí)，測(cè)頭記錄的是測(cè)球中心的空間坐標(biāo)，然后根據(jù)測(cè)球半徑來進(jìn)行補(bǔ)償，得出實(shí)際點(diǎn)的坐標(biāo)。但當(dāng)測(cè)量特定位置的三維曲線時(shí)，如果不按照測(cè)點(diǎn)的法線方向去采點(diǎn)，會(huì)存在半徑補(bǔ)償余弦誤差;而如果按照測(cè)點(diǎn)的法線方向去采點(diǎn)，又會(huì)產(chǎn)生實(shí)際測(cè)點(diǎn)位置出現(xiàn)偏差的情況。這種情形在測(cè)量透平葉片時(shí)尤為常見。