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發(fā)布時(shí)間:2020-09-08 18:01  
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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。在這個(gè)過程中,操作者首先對(duì)板材進(jìn)行測(cè)量,但是操作者使用量尺的方式不同,就會(huì)造成補(bǔ)償值的大小不等,會(huì)形成人為的誤差。廣泛應(yīng)用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領(lǐng)域。
影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些
影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有哪些?生產(chǎn)產(chǎn)品過程中,可能就因?yàn)橐稽c(diǎn)點(diǎn)的誤差,可能這批產(chǎn)品就成了報(bào)廢品,而這種情況在批量生產(chǎn)的廠家中為常見,也是需要注意的一個(gè)點(diǎn)。因此我們也就得對(duì)影響涂層測(cè)厚儀精準(zhǔn)度的因素有所了解了。
(1)附著物質(zhì)的影響。本儀器對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì),以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí),選擇的基體的表面也必須是luo露的、光滑的。
一六儀器---鍍層測(cè)厚儀|光譜測(cè)厚儀|X-ray測(cè)厚儀|X熒光測(cè)厚儀|凃?qū)幽ず駜x
儀器規(guī)格:
外形尺寸 :550 mm x 480mm x 470 mm (長(zhǎng)x寬x高)
樣品倉(cāng)尺寸 :500mm×360 mm ×215mm (長(zhǎng)x寬x高)
儀器重量 :55kg
供電電源 :交流220±5V
da功率 :330W
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境相對(duì)濕度:<70%
測(cè)厚儀和膜厚儀一樣嗎
測(cè)厚儀和膜厚儀是不一樣的,膜厚儀屬于測(cè)厚儀的分類,也就是說(shuō)測(cè)厚儀是膜厚儀的上司一樣,對(duì)此我們也可以來(lái)了解下測(cè)厚儀跟膜厚儀的一些概念:
測(cè)厚儀按原理分類:激光測(cè)厚儀、超聲波測(cè)厚儀、X射線測(cè)厚儀、壓力測(cè)厚儀、白光干涉測(cè)厚儀、電解式測(cè)厚儀、機(jī)械接觸式測(cè)厚儀。
測(cè)厚儀的原理:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量,當(dāng)探頭發(fā)射超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過準(zhǔn)確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。種類相對(duì)繁多,下面大成精密小編一測(cè)厚儀為例給大家介紹測(cè)厚儀的分類及其用途,具體如下:測(cè)厚儀(thicknessgauge)是用來(lái)測(cè)量物體厚度的儀表。
性能優(yōu)勢(shì):
下照式設(shè)計(jì):可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。
無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件。
精密微型滑軌:快速精準(zhǔn)定位樣品。
EFP先進(jìn)算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
X射線測(cè)厚儀應(yīng)用在哪些方面
適用范圍:生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中, x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。
為了讓我們生產(chǎn)的產(chǎn)品更符合客戶的要求,那么找到適用于我們產(chǎn)品的測(cè)厚儀就非常重要了,因此如果不了解應(yīng)該使用哪種測(cè)厚儀,較好的方法就是咨詢客服,在專業(yè)的角度上給你一個(gè)建議,也可以了解下產(chǎn)品信息。
一六儀器X射線熒光測(cè)厚儀 研發(fā)生產(chǎn)廠家 品質(zhì)保證
江蘇一六儀器有限公司研發(fā)的能量色散X熒光光譜儀具有穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進(jìn)的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析,歡迎來(lái)電咨詢!
不同種類的測(cè)厚儀的應(yīng)用
1、薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,一六儀器從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。
應(yīng)用領(lǐng)域:
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測(cè)
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業(yè)
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測(cè)
衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽(yáng)離子檢測(cè)




3、涂層測(cè)厚儀:用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.