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發(fā)布時(shí)間：2020-10-09 10:14
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團(tuán)隊(duì) 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機(jī)物
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
xiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上鍍層厚度分析儀測量原理與儀器
一． 磁吸力測量原理鍍層厚度分析儀
磁鐵（測頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系，這個(gè)距離就是覆層的厚度。X射線波長色散型光譜儀一般有光源（X-射線管）、樣品室分光晶體和檢測系統(tǒng)等組成。利用這一原理制成測厚儀，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可進(jìn)行測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用廣。測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產(chǎn)品可以自動完成這一記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制。
二． 磁感應(yīng)測量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。X-RAY測厚儀特點(diǎn)1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬~100萬左右，可測試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測量信號。還采用專利設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。磁性原理測厚儀可應(yīng)用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。
三． 電渦流測量原理鍍層厚度分析儀
高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。任選靶材：W、Mo、Ag等X射線管：管電壓50KV，管電流1mA可測元素：CI～U檢測器：正比計(jì)數(shù)管樣品觀察：CCD攝像頭測定軟件：薄膜FP法、檢量線法Z軸程控移動高度20mm。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時(shí)完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適。
一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
一次可同時(shí)分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005umxiao測量面積0.002m㎡ 深凹槽20mm以上
鍍層厚度分析儀使用注意事項(xiàng)
1．儀器供電電壓必須與儀器銘牌上的電壓一致。儀器必須使用三線插頭連到一個(gè)已接地的插座上。
2．鍍層厚度分析儀為精密儀器，建議配備的穩(wěn)壓電源。計(jì)算機(jī)和儀器應(yīng)配備不間斷電源（UPS）。
3．鍍層厚度分析儀應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來。
4．儀器適合在10~40℃（50~104℉）的環(huán)境溫度下操作使用，在0~50℃（32~122℉）的溫度下存放。操作和存放的允許濕度范圍在0~65%之間（非冷凝）。在操作過程中，環(huán)境溫度和濕度應(yīng)保持恒定。
5．儀器曝曬在陽光下時(shí)溫度極易超過50℃。所以請不要在這樣的環(huán)境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。
6．為避免短路，嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸。如果液體進(jìn)入儀器，請立刻關(guān)閉儀器并在重新使用前請技術(shù)人員整體檢查儀器。
7．鍍層厚度分析儀不能用于酸性環(huán)境和場合。
8．不要弄臟和刮擦元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片，否則會造成讀數(shù)錯(cuò)誤。
9．不要用任何機(jī)械或化學(xué)的方法清除元素片或調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片上的污物。如果必要的話，可以用一塊不起毛的布輕輕擦除臟物。
江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！
1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護(hù)裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點(diǎn)尺寸在12.7mm聚焦距離時(shí)，測量斑點(diǎn)尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時(shí)，測量斑點(diǎn)尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計(jì)數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時(shí)，152.4mmXY軸手動時(shí)，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）
厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物
x射線熒光鍍層測厚儀（國產(chǎn)）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過X熒光照射出產(chǎn)品，每個(gè)元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強(qiáng)度來金屬鍍層的厚度，完全達(dá)到無損、快速分析的效果，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業(yè)、開關(guān)企業(yè)等。根據(jù)色散方式不同，X射線熒光分析儀相應(yīng)分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優(yōu)勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
minimum φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
移動平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)x射線熒光鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
