光譜測厚儀性價比高

一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

鍍層厚度分析儀根據測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法

適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為：鋼、鐵、銀、鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法

適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法

目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴，測量精度也不高。

4.電解測厚法

此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。

5.測厚法

此種儀器價格昂貴，適用于一些特殊場合。

一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

上照式：通常都有Z軸可移動，所以可對形狀復雜的樣品（如凹面內）做定位并且測試，一般可定位到2mm以內的深度，如Thick800A，另外有些廠商在此基礎上配備了可變焦裝置，搭配先進的算法，可定位到80mm以內的深度，如XDL237

下照式：通常都沒有Z軸可移動，所以不可對凹面等無法直接接觸測試窗口的位置進行定位并測試，但操作簡單，造價相對低；部分廠商或款式儀器搭載變焦裝置也可測試復雜形狀樣品，同時也抬高了價格

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測厚儀

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

      江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀 

     江蘇一六儀器   能量色散X射線熒光光譜測厚儀 

X射線的產生利用X射線管(圖2)，施加高電壓以加速電子，使其沖撞金屬陽極(對陰極)從而產生X射線。從設計上分為橫窗型(side window type)和縱窗型(end window type)兩種X射線管，都是設計成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結構。一六熒光測厚儀十年以上研發團隊集研發生產銷售一體元素分析范圍:氯(CI)-鈾(U)厚度分析范圍:各種元素及有機物一次可同時分析:23層鍍層,24種元素厚度檢出限:0。

X射線窗口，一般使用的是鈹箔。陰極(也叫做:靶材)則多使用是鎢(W)、銠(Rh)、鉬(Mo)、鉻(Cr)等材料。這些靶材的使用是依據分析元素的不同而使用不同材質。原則上分析目標元素與靶材的材質不同。