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KOAN 晶體采用不同大小激勵功率測試以提高穩定性

弛豫效應：加在晶片上的機械應力隨時間的推移而松弛時，會引起頻率的漂移，因此要選擇合適的激勵功率，使晶片的自身應力和電極施于晶片的應力發生變化，應力的變化又導致因應力弛豫效應引起的老化速率發生變化。第三個部分就是順序號了，一般是用阿拉伯數字來表示，可以很好的用來區分主要性能是怎么樣或者外形尺寸大小。另外，激勵功率變化，將引起晶片振幅的變化，從而改變晶片上質量遷移引起的老化速率，可能抵消兩種老化速率。

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KOAN 晶體諧振器使用過程常見問題介紹

晶體振蕩回路頻率不準，溫度變化精度不準，批量使用出現不起振的，工作一段時間出現不工作的現象，頻率不準確超出出廠標準，造成通訊錯誤，IC 通訊異常，以上情況都需要考慮晶體質量可能出現問題，需要交給供應做質量分析報告，如果確認不是晶體質量出現問題，應考慮晶體振蕩回路沒有匹配好，或者選型錯誤，或者功率問題。振蕩電路的工作頻率如果不在晶體諧振器標稱頻率范圍內，稱為“不規則振蕩”，調整阻尼電阻和外部負載電容，可以減少不規則振蕩發生的幾率。

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晶體諧振器的主要技術指標介紹

標稱頻率：振蕩器輸出的中心頻率或頻率的

頻率準確度：振蕩器輸出頻率在室溫(25℃±2℃)下相對于標稱頻率的偏差。

調整頻差：在特定溫度范圍內振蕩器輸出頻率相對于25℃時測量值的較大允許頻率偏差。

負載諧振頻率（fL）：在規定條件下，晶體與一負載電容相串聯或相并聯,其組合阻抗呈現為電阻性時（產生諧振）的兩個頻率中的一個頻率。在串聯負載電容時，負載諧振頻率是兩個頻率中較低的一個，在并聯負載電容時，則是兩個頻率中較高的一個。