光譜膜厚儀量大從優「在線咨詢」

一六儀器  X-RAY測厚儀研發生產廠家,歡迎來電咨詢!

測厚儀,多薄多復雜組合的鍍層分析,一六儀器研發生產的儀器都能滿足您的使用!

一六儀器提供的測厚儀可測試面積0.002mm?和80mm深槽的樣品

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

  測量注意事項：⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

一六儀器  國內外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀  

一六儀器研發生產的X熒光光譜儀,穩定的多道脈沖分析采集系統,專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

儀器規格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

   樣品倉尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

    zui da功率 ：330W

   環境溫度：15℃-30℃

   環境相對濕度：<70%

涂層測厚儀操作規程有哪些

   我們在使用涂層測厚儀時，如果不了解涂層測厚儀的操作規程，那么就很容易出現一些問題，甚至嚴重的可能會對自身產生威脅，那么涂層測厚儀的操作規程有哪些，下面就來了解下先：

 一、操作注意事項

  1. 如果在測量中測頭放置不穩，會引起測量值與實際值偏差較大；

  2.  如果已經進行了適當的校準，所有的測量值將保持在一定的誤差 范圍內；

  3. 儀器的任何一個測量值都是五次看不見的測量平均值；

  4.  為使測量更加準確，可在一個點多次測量，并計算其平均值作為 終的測量結果；

  5.  顯示測量結果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以 進行下次測量。

X射線熒光的基本原理

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X射線熒光是由原級X射線照射待測樣品時所產生的次級X射線，入射的X射線具有相對較大的能量，使其可以轟擊出位于元素原子內層中的電子。江蘇一六儀器專業測厚儀多道脈沖分析采集先進EFP算法膜厚儀又名膜厚測試儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。X射線熒光光譜的波長在0.01-10納米之間，能量在124KeV-0.124KeV之間。用于元素分析中的X射線熒光光譜波長的范圍在0.01-11納米之間，能量為0.111-0.124KeV。

   當X射線激發出試樣特征X射線時，其入射電磁輻射能量必須大于某一個值才能引起其內層電子激發態從而形成空穴并引起電子的躍遷，這個值是吸收限，相當于內層電子的功函數。影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些影響涂層測厚儀精準度的因素有哪些。如果入射電磁輻射的能量低于吸收限則在任何情況下都不能激發原子內層電子并產生特征X射線。