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發布時間:2021-03-30 03:28  
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直讀光譜儀器的誤差來源有哪些?直讀光譜分析儀具有分析速度快,準確度較高的特點,但對于碳、硅含量較高的鑄鐵特別是球鐵的爐前分析,存在試樣白口化及分析樣品與標準樣品的組織狀態和組分之間存在的不完全一致問題。1)系統誤差也叫可測誤差,一般包括儀器的本身波動;樣品的給定值和實際值存在一定的偏差(標準樣品的元素定值方法可能和實際檢測方法不一致,這樣檢測結果會有方法上的差異;同一種方法的檢測結果也存在一定的波動);待測樣品和系列標樣之間存在成分的差異,可能導致在蒸發、解離過程中的誤差,如背景強度的差別和基體蒸發的差異等。2)偶然誤差是一種無規律性的誤差,如試樣不均勻;檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化;樣品本身的成分差異等。3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結果,可以避免。如制樣不確,樣品前處理不符合要求,控樣和待測試樣存在制樣偏差,選擇了錯誤的分析程序等。 次數用完API KEY 超過次數限制

近年來,光譜儀器作為科研和生產的“眼睛”,其前沿技術與應用方法層出不窮。政策與市場頻頻利好、新品技術日新月異、重大光譜項目研制及成果轉化等為擺脫我國光譜儀器行業“有器無心”、低端化現狀、提升拓展國際市場競爭力發揮著日益顯著的強劑作用。
國家的政策法規為光譜儀市場發展保駕護航,科研機構和國產企業也為光譜儀發展提供了源源不斷的動力,在雙重驅動下,光譜儀市場已經蓄勢待發。相信未來,光譜儀需求量將遞增不減,市場更廣闊。集微型化、智能化、便捷化功能為一體,光譜產業發展平穩推進,在各個細分領域亦然取得可觀的預測成績。維護保養的注意事項1,維護保養的重點應當是使用者經常接觸到的地方,這些接觸點很容易出故障,應加強對這些接觸點的維護保養。 次數用完API KEY 超過次數限制

在實際分析中會受到第三元素的影響,這些干擾從何而來,我們能夠克服它們得到一個好的分析結果嗎?直讀光譜儀應用的過程中受那些干擾?直讀光譜儀中有關第三元素影響的問題
當選擇了不適宜的基體內標時,由于基體含量的變化造成分析線對相對強度的變化,影響結果的穩定。當用鐵內標進行低合金鋼分析時,要求基體含量基本不變。
第三元素的存在影響試樣的蒸發過程。蒸發過程對譜線強度的影響是復雜的,所得研究規律還很不完善,仍屬定性的經驗規律。所以分析時應采用與試樣組成及組織結構盡量一致的標準樣品或控制樣品。
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光譜儀維修必學的準則
“先簡后繁”,先從簡單的器件或部位下手,再進入復雜繁瑣的電路或線路。在維修電路時,根據儀器的電路原理,先從簡單的電路開始進行,如指示燈不亮、按鍵失靈或接觸不良、電壓電流表無指示或指示異常、電源插頭插座松動、保險絲是否熔斷、開關接觸是否可靠等。在此基礎上進一步維修復雜的而繁瑣主電路或線路,比如:變壓器、繼電器、接觸器、壓力傳感器、電磁閥、過壓(限壓)保護開關、流量傳感器等主控電路或線路。直讀光譜儀實驗室對環境的要求直讀光譜儀的供電電源:有ACl98—240V50HZ的單相電源,供光譜儀使用3KVA。 次數用完API KEY 超過次數限制