可編程高低溫試驗箱擇優推薦 科唯美特儀器設備

模擬自由空氣條件效應的高低溫試驗箱的設計

   加熱和冷卻箱體的器件不應放在工作空間中，因為箱內溫度的控制就是依賴這些組件的溫度變化來達到的。箱壁溫度亦應避免發生大的波動，以使輻射影響問題縮減到程度。

   為得到結果，高低溫試驗箱體所有箱壁均應加熱或冷卻。采用液體循環來加熱或冷卻所有的箱壁，是使箱壁溫度避免產生大波動的一-種合適方法，箱壁的輻射系數應該滿足試驗的要求。

   對依靠空氣循環來保持試驗溫度的高低溫試驗箱，試驗時可把試驗樣品置放在盒子內，然后再把這個盒子放入高低溫試驗箱內來進行試驗。此時，盒子的容積應該滿足試驗的尺寸要求，且盒壁應滿足輻射系數的要求。

在 GJB 360B—2009《電子及電氣元件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命試驗”，其試驗目的是用于確定試驗樣品在高溫條件下工作一段時間后，高溫對試驗樣品的電氣和機械性能的影響，從而對試驗樣品的質量做出評定。在 GJB 128A—1997《半導體分立器件試驗方法》中涉及高溫試驗的有“高溫壽命（非工作）”和“高溫壽命（非工作）（抽樣方案）”兩種試驗，前者的試驗的目的是用于確定器件在承受規定的高溫條件下是否符合規定的失效率，后者的試驗目的是用于確定器件在承受規定的條件下是否符合規定的抽樣方案。電子元器件在高溫環境中，其冷卻條件惡化，散熱困難，將使器件的電參數發生明顯變化或絕緣性能下降。例如，在高溫條件下，存在于半導體器件芯片表面及管殼內的雜質加速反應，促使沾污嚴重的產品加速退化。*后制冷劑通過蒸發器等溫地從溫度較高的物體吸熱，使被冷卻物體溫度降低。此外，高溫條件對芯片的體內缺陷、硅氧化層和鋁膜中的缺陷以及不良的裝片、鍵合工藝等也有一定的檢驗效果。GJB 150《設備環境試驗條件》是設備環境試驗標準，它規定了統一的環境試驗條件或等級，用以評價設備適應自然環境和誘發環境的能力，適用于設備研制、生產和交付各階段，是制定有關設備標準和技術文件的基礎和選用依據。

如果在0℃一下使用機器，就要避免打開箱門，這是因為在做低溫的時候，如果打開箱門，容易導致內部的蒸發器和其他部位有封冰的現象，尤其是溫度閱讀情況就越嚴重。如果是一定要打開，也要盡量的縮短開門的時間。

在完成了低溫試驗時，一定要設定好溫度條件在60℃進行干燥處理，大約半個小時，避免影響到下一個測試的測定時間或是有結冰的現象。

應當定期的對冰凍機的散熱器進行保養，保持它的清潔。

在加濕桶進入水管，一定要完全排出存留的空間，防止水無法進入