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發(fā)布時(shí)間：2021-01-12 16:11
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背壓法氦質(zhì)譜檢漏
采用背壓法檢漏時(shí)，首先將被檢產(chǎn)品置于高壓的氦氣室中，浸泡數(shù)小時(shí)或數(shù)天，如果被檢產(chǎn)品表面有漏孔，氦氣便通過(guò)漏孔壓入被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔中，使內(nèi)部密封腔中氦分壓力上升。然后取出被檢產(chǎn)品，將表面的殘余氦氣吹除后再將被檢產(chǎn)品放入與檢漏儀相連的真空容器內(nèi)，被檢產(chǎn)品內(nèi)部密封腔內(nèi)的氦氣會(huì)通過(guò)漏孔泄漏到真空容器，再進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀，從而實(shí)現(xiàn)被檢產(chǎn)品總漏率測(cè)量。檢漏儀給出的漏率值為測(cè)量漏率，需要通過(guò)換算公式計(jì)算出被檢產(chǎn)品的等效標(biāo)準(zhǔn)漏率。真空法的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)主要有QJ3123-2000《氦質(zhì)譜真空檢漏方法》、GB/T15823-2009《氦泄漏檢驗(yàn)》，主要應(yīng)用于真空密封性能要求，但不帶壓工作的產(chǎn)品，如空間活動(dòng)部件、液氫槽車、環(huán)境模擬設(shè)備等。
背壓法的優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)靈敏度高，能實(shí)現(xiàn)小型密封容器產(chǎn)品的泄漏檢測(cè)，可以進(jìn)行批量化檢測(cè)。
背壓法的缺點(diǎn)是不能進(jìn)行大型密封容器的漏，否則由于密封腔體容積太大，導(dǎo)致加壓時(shí)間太長(zhǎng)。此外，每個(gè)測(cè)量漏率都對(duì)應(yīng)兩個(gè)等效標(biāo)準(zhǔn)漏率，在細(xì)檢完成后還需要采用其它方法進(jìn)行粗檢，排除大漏的可能。
背壓法的檢漏標(biāo)準(zhǔn)主要有QJ3212-2005《氦質(zhì)譜背壓檢漏方法》、GJB360A-1996《電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法112 密封試驗(yàn)》，主要應(yīng)用于各種電子元器件產(chǎn)品檢漏。
切勿放空或溢出檢漏氣體至試漏區(qū)
試漏中的可檢漏率與檢漏氣體的本底濃度關(guān)系甚大，盡管檢漏儀只檢測(cè)檢漏氣體的濃度變化, 高的本底濃度還趨于出現(xiàn)高的波動(dòng)。如果在試漏后將檢漏氣體排放在試漏區(qū)內(nèi)，那么在整個(gè)工作日內(nèi)本底濃度將不斷地增長(zhǎng)。此外，在充注或排放中要確保無(wú)氣體溢出，并定期檢查連接件是否有漏。按照施漏氣體方法的不同，又可以將真空法分為真空噴吹法和真空氦罩法。
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在試漏區(qū)避免穿堂風(fēng)對(duì)吸槍的影響
通常在生產(chǎn)環(huán)境中，在不同的區(qū)域之間由于溫差、風(fēng)扇或其它形成空氣流動(dòng)因素出現(xiàn)而導(dǎo)致空氣的流動(dòng)，而任何空氣流動(dòng)對(duì)于檢漏能力都具有一定的作用，因?yàn)楸粰z測(cè)的氣體將被穿堂風(fēng)吹離吸槍探尖的開口為取得良好的測(cè)試結(jié)果，試漏區(qū)應(yīng)屏蔽這些風(fēng)帶來(lái)的不良影響。
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氦檢漏步驟
1、抽真空至5Pa以下就可以開始檢測(cè)。
2、插上檢漏儀電源,關(guān)閉上部手動(dòng)擋板閥,開啟檢漏儀總電源，此時(shí)，“放氣”燈亮起，等待系統(tǒng)運(yùn)行
3、當(dāng)”系統(tǒng)正常”及旁邊的兩個(gè)燈都顯示為綠色時(shí),觀察預(yù)置參數(shù),應(yīng)為10-15,一般取15，觀察數(shù)值，應(yīng)為10的-8至-9次方時(shí)，可以開始檢漏(等待幾分鐘)
4、按'檢漏”鍵，緩慢開啟頂部手動(dòng)擋板閥，注意:檢漏口的壓強(qiáng)不得超過(guò)10MPa,否則機(jī)器易損壞,
5、 數(shù)值穩(wěn)定后,先記錄下來(lái)，這就是. '本底”
6、逐個(gè)將氦氣充入焊縫，并封堵插入口，將數(shù)值變動(dòng)記錄下來(lái)。全部完成充氦后再觀察20分鐘，看數(shù)值有無(wú)大的變動(dòng)。
7、關(guān)機(jī)時(shí)，應(yīng)先關(guān)閉上部手動(dòng)擋板閥,然后開啟放氣鍵，后關(guān)電源。
