FE3000膜厚儀專業團隊在線服務 蘇州大塚電子

FE3000反射式膜厚量測儀:產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。

可在軟件上設定激發光源的波長及步值，實現自動測量

電流-量子效率曲線

電流-光通量曲線

電流-功率曲線

電流-色溫曲線

電流-色坐標曲線

電流-顯色性曲線

電流-電壓曲線

半積分球。大塚電子獨有專利，提高積分球測試效率一倍，更易于樣品的裝夾，切換迅速（世界范圍內獨i家）；(2)多次激發修正。大塚電子獨有專利，i大程度降低樣品所反射的激發光再次照射樣品帶來的多次激發, 對粉末和固體測試精度提高明顯（世界范圍內獨i家）；(3)光譜可擴展, 光譜探測范圍可擴展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升級配備控溫系統（-30℃-300℃）

不銹鋼樣品池及石英材質光學窗口，光學透過率大于98%，全波段無熒光反應，用于固體、粉末及薄膜樣品測試（數量5個），尺寸直徑≤10mm

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學系統。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實際情況有所不同。(本次系統采用的是積分半球)。