OPTM膜厚儀的行業(yè)須知【大塚電子】

頭部集成了薄膜厚度測(cè)量所需功能

通過顯微光譜法測(cè)量高i精度絕i對(duì)反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)）

1點(diǎn)1秒高速測(cè)量

顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外）

區(qū)域傳感器的安全機(jī)制

易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析

獨(dú)立測(cè)量頭對(duì)應(yīng)各種inline客制化需求

支持各種自定義

測(cè)量項(xiàng)目：

絕i對(duì)反射率測(cè)量

多層膜解析

光學(xué)常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕i對(duì)反射率進(jìn)行測(cè)量，可進(jìn)行高i精度膜厚度/光學(xué)常數(shù)分析。

可通過非破壞性和非接觸方式測(cè)量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測(cè)量時(shí)間上，能達(dá)到1秒/點(diǎn)的高速測(cè)量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學(xué)常數(shù)的軟件

1.膜厚測(cè)試儀出現(xiàn)下列情況，必需重新校準(zhǔn)。　　·校準(zhǔn)時(shí)，輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值；　　·操作錯(cuò)誤。　　2.在直接方式下，如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，應(yīng)緊接著做一次測(cè)量，隨后再做一次校準(zhǔn)，即可獲取新值消除錯(cuò)誤值。　　3.每一組單元中，只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。　　4.零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次，以獲得更為精準(zhǔn)的校準(zhǔn)值，提高測(cè)量精度但此過程中一旦有過一次測(cè)量，則校準(zhǔn)過程便告結(jié)束。

影響膜厚儀測(cè)量的的客觀因素

耦合劑對(duì)膜厚儀的影響。耦合劑是用來排除探頭和被測(cè)物體之間的空氣，使超聲波能有效地穿入工件達(dá)到檢測(cè)目的。如果選擇種類或使用方法不當(dāng)，將造成誤差或耦合標(biāo)志閃爍，無法測(cè)量。因根據(jù)使用情況選擇合適的種類，當(dāng)使用在光滑材料表面時(shí)，可以使用低粘度的耦合劑；當(dāng)使用在粗糙表面、垂直表面及頂表面時(shí)，應(yīng)使用粘度高的耦合劑。