蕪湖熒光測厚儀信賴推薦「多圖」

一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U)   厚度分析范圍:各種元素及有機物

一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um

X熒光測厚儀相關(guān)注意事項：

　　儀器供電電壓必須與儀器品牌上的電壓一致.儀器三線插頭必須連接到已接地的插座上。

　　本儀器為精密儀器,配備的穩(wěn)壓電源.計算機應(yīng)配備不間斷電源(UPS)。

　　儀器應(yīng)特別注意與存在電磁的場合隔離開來。

　　為避免短路,嚴(yán)禁儀器與液體直接接觸,如果液體進(jìn)入儀器,請立即關(guān)閉儀器。

　　本儀器不能用于酸性環(huán)境和場合。

　　不要弄臟和刮擦調(diào)校標(biāo)準(zhǔn)片,否則會造成讀數(shù)錯誤。

　　不要用任何機械或化學(xué)的方法清除調(diào)校片上的臟物,可以用不起毛的布輕輕擦拭。

一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題

這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴，測量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中任一電子所填充，從而可產(chǎn)生一系列的譜線，稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、、實用化的方向進(jìn)了一步。測量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。（二）、各種外部結(jié)構(gòu)的特點1、上照射方式用于照射(激發(fā))的X射線是采用由上往下照射方式的設(shè)備稱為上照射儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進(jìn)行。

江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 優(yōu)點    

X射線熒光能譜儀沒有復(fù)雜的分光系統(tǒng)，結(jié)構(gòu)簡單。X射線激發(fā)源可用X射線發(fā)生器，也可用性同位素。能量色散用脈沖幅度分析器。探測器和記錄等與X射線熒光光譜儀相同。

    X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優(yōu)缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應(yīng)性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數(shù)量級，靈敏度高。參考標(biāo)準(zhǔn)塊應(yīng)具有的已知單位面積質(zhì)量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應(yīng)知其組成。可以對能量范圍很寬的X射線同時進(jìn)行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。