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發布時間：2020-08-07 05:46
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
（一）、內部結構
X熒光光譜測厚儀機型很多，但是其內部結構如果先天不足，后期的外部結構無論自動化多高，也無法完全滿足客戶需求。內部結構重要的3點：
1、X熒光發射和CCD觀測是否同步和垂直？
2、測試樣品是否可以變化測頭到樣品的距離？
3、X光照射面積從出口到樣品的擴散情況。
（二）、各種內部結構的優缺點
1、X熒光發射和CCD觀測樣品只有同步且垂直才不會因為樣品的高低深淺變化而改變測試到樣品的位置，才能保證定位精準，同時減少與探測器或計數器的夾角，夾角小測試時
受樣品曲面或者傾斜影響小。
2、測試樣品距離可變化才能測試高低不平帶凹槽的樣品工件，同時也兼顧好平面樣品的測試。但是它需要配備變焦鏡頭和變焦
補償射線的算法。
3、X光照射面積從出口到樣品的擴散過于嚴重會導致無法測試樣品工件上較小的平面位置，如果減小出口（準直器直徑），又會嚴重耗損X光的強度。
因此一臺此類儀器的小準直器不是關鍵，但是測試面積卻是個重要的指標。
選擇Elite（一六儀器）X射線熒光鍍層測厚儀理由：
根據IPC規程，必須使用整塊的標準片來校正儀器，對于多鍍層的測量，目前大多數客戶購買的測厚儀采用的是多種箔片疊加測量校正，比如測量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu,因為測量點很小，測量距離的變化對測量結果有較大影響，如果使用Au，Pd，Ni三種箔片疊加校正，校正的時候箔片之間是有空氣，并且Pb元素與空氣的頻譜重疊，以上會對測量結果產生較大影響，Elite（一六儀器）測厚儀有電鍍好的整塊的Au/Pd/Ni/base標準片，不需要幾種箔片疊加校正，可以確保鍍層測量的準確性。8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43。
2、采用微聚焦X射線管，油槽式設計，工作時采用油冷，長期使用時壽命更長。微聚焦X射線管配合比例接收能實現高計數率，可以進行測量。
3、Elite（一六儀器）WinFTM專用軟件，具有強大且界面友好、中英文切換，多可同時測量23層鍍層，24種元素，測量數據可直接以WORD格式或EXCEL格式輸出、打印、保存。005mm鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數minimumφ0。采用基本參數法（FP），有內置頻譜庫，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確的分析和測量。
4、 Elite（一六儀器）針對PCB（印制電路板）線路板上的鍍層厚度及分析而設計的X射線熒光測厚儀（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特點：1）工作臺有手動和程序控制供客戶選擇，2）采用開槽式設計和配置加長型樣品平臺，用于檢測大尺寸的線路板。所以請不要在這樣的環境下操作和存放儀器，以避免高溫對儀器造成損害。
江蘇一六儀器 選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。
2、強化品質管控
X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據，這是做好電鍍品質管控的前提。
3、提升生產力
傳統的檢測技術，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助，從而帶來更多的經濟效益。
4、提升市場競爭力
X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力，也可以幫助電鍍企業在行業里保持excellent的競爭優勢。
