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熱釋光劑量片概述

1、重復性：LiF:Mg,Cu,P探測器的重復性能隨使用次數的增加趨于更加穩定，一般均在上百次以上；

2、線性：LiF:Mg,Cu,P探測器線性范圍為10-7～30Gy；

3、長期穩定性：在環境溫度低于40℃的環境下，累積劑量信息的減退在3-6個月內可以忽賂不計，若環境溫度≥50℃時，則其劑量信息的減退約為（3-5）％/月。

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熱釋光的使用

使用熱釋光元件可以重復使用。但是，經核輻射照射后的熱釋光體只允許一次加熱測量，因為加熱后，儲存的信息就被破壞了，不能復查測量結果。對污染的片狀探測器(用手觸摸、掉在地板或桌面上)盡量剔除，切勿用酒精棉球擦洗再用。在劑量監測中，萬一某次測量失誤，測量結果就被丟失。要再次使用時，熱釋光體要用高溫退火。對不同材料，退火溫度不完全相同。如對LiF，要在400℃下保持1h，在該條件下，可使400℃下的所有發光峰陷阱中的電子全部釋放出來，而陷阱能級并不破壞。

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熱釋光探測器的原理

熱釋光探測器是利用熱致發光原理測量輻射的裝置。熱釋光劑量片的應用領域對放射性輻射的個人劑量、事故劑量、皮膚劑量和環境劑量的自動化測量。當射線照射時，在固體中產生的電子和正離子被其俘獲。檢測時加熱固體，則釋放的電子和正離子與固體其他部分的異性電荷復合并發光。其發光光線穿過并導至光電倍增管產生光電流，再經直流放大器放大，后通過記錄器記錄。

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熱釋光探測器的特點

頻率特性好。測試：使用在相應的熱釋光劑量儀器，開機30分鐘后調準光源靈敏度，使用M2程序（即：升溫速率為15℃/S，恒溫135℃/8S，第二恒溫240℃/12S），空測3次以上后進行測量。其他熱探測器都是在熱平衡后輸出較大，工作時輻照時間必須大于熱平衡的時間常數（一般為數 ms 至數十 ms）。而熱釋電探測器，是在非熱平衡狀態下工作的，熱平衡時反而沒有輸出，因此工作時輻照時間必須小于熱平衡時間常數（一般為 0.1～1s）。也就是說它的工作速度不受熱平衡的限制，其頻率的上限主要取決于其等效電容和后續電路。

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