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發布時間：2020-12-19 06:44
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一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
X熒光鍍層測厚儀標準片選擇與使用
1．一般要求
使用可靠的參考標準塊校準儀器。后的測量不確定度直接取決于校準標準塊的測量不確定度和測量精度。
參考標準塊應具有的已知單位面積質量或厚度的均勻的覆蓋層，如果是合金，則應知其組成。參考標準塊的有效或限定表面的任何位置的覆蓋層不能超過規定值的±5%.只要用于相同的組成和同樣或已知密度的覆蓋層，規定以厚度為單位（而不是單位面積質量）的標準塊，將是可靠的。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能7計算機系統配置IBM計算機:1。合金組成的測定，校準標準不需要相同，但應當已知。
金屬箔標準片。如果使用金屬箔貼在特殊基體表面作標準片，就必須注意確保接觸清潔，無皺折紐結。任何密度差異，除非測量允許，否則必須進行補償后再測。
2．標準塊的選擇
可用標準塊的單位面積厚度單位校準儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標準片應與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器。
3．標準塊的X射線發射（或吸收）特性及使用
校正標準塊的覆蓋層應與被測覆蓋層具有相同的X射線發射（或吸收）特性。
如果厚度由X射線吸收方法或比率方法確定，則厚度標準塊的基體應與被測試樣的基體具有相同的X射線發射特性，通過比較被測試樣與校正參考標準塊的未鍍基體所選的特征輻射的強度，然后通過軟件達到對儀器的校正。
江蘇一六儀器 我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。005um江蘇一六儀器X射線熒光鍍層測厚儀應用領域集成電路是國民經濟首要突破的行業，中國現代制造業的發展，集成電路是基礎。
-樣品觀察系統高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
7計算機系統配置IBM計算機:1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調制解調器。惠普或愛普生彩色噴墨打印機。
8分析應用軟件操作系統:Windows2000中文平臺中文分析軟件包:SmartlinkFP軟件包
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀 元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）
厚度分析范圍：各種元素及有機物
x射線熒光鍍層測厚儀（國產）是一款針對金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過X熒光照射出產品，每個元素反射出的二次特征譜線，通過檢測器分析出強度來金屬鍍層的厚度，完全達到無損、快速分析的效果，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、電鍍企業（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業、開關企業等?？煽啃愿撸河捎跍y試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。
x射線熒光鍍層測厚儀性能優勢
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
minimum φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點x射線熒光鍍層測厚儀技術參數
一次可同時分析多達五層鍍層
度適應范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
