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發布時間:2021-10-04 05:57  
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掃描電鏡和透射電鏡設備的不同點:高分辨率
掃描電鏡和透射電鏡設備的不同點:
高分辨率臺式掃描電鏡使用—組特定的線圈以光柵樣式掃描樣品并收集散射的電子。
透射電鏡是使用透射電子,收集透過樣品的電子。因此,透射電鏡提供了樣品的內部結構,如晶體結構,形態和應力狀態信息,而掃描電鏡則提供了樣品表面及其組成的信息。
而且,這兩種設備的差別之一是它們可以達到的空間分辨率;掃描電鏡的分辨率被限制在~0.5nm,而隨著近在球差校正透射電鏡中的發展,已經報道了其空間分辨率甚至小于50pm。

掃描電鏡的結構是什么?
掃描電鏡的結構
掃描電鏡是針對臺式電鏡設計的,本著臺式電鏡簡單易用,利用半導體制冷,無需額外冷卻系統,是一款具有處理所有類型材料能力的分析儀器,可以提供成像質量,配備X射線能譜儀接口,并有X射線幾何設計,可對所有樣品進行分析,對于非導體采用電子束襯管技術也提高了圖像質量和分析精度。
掃描電鏡先進的X射線幾何結構以及標配能譜儀和波譜儀,可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品,可移動的顯微鏡樣品臺用于觀察大型樣品,是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的結構包括電子光學系統、圖像顯示和記錄系統、真空系統、X射線能譜分析系統。
臺式掃描電鏡對生物智能材料的研究
生物智能材料一直是材料領域的熱門方向,尤其是在醫學領域的應用,其點滴的創新都能對科技發展起到推動作用。但由于其選材覆蓋面廣泛、結構尺寸微小,所以對掃描電鏡的綜合觀測能力具有較高的要求。
電鏡Phenom ProX具有150,000的放大倍數、8nm的分辨率,輕松觀測納米尺度,如液態金屬納米球;
· 采用背散射、二次電子雙探頭,輕松獲取原子序數和表面形貌襯度圖像,為客戶提供更多的樣品信息;
· 能譜分辨率達 123eV,分析樣品中元素的分布和含量;
· 電鏡具有的真空設計,即使面對導電性較差的樣品,也可直接觀測,無需噴金,如圖所示未噴金的聚(PS)小球,基本沒有出現荷電現象;
· 電鏡操作十分簡便、,經過一日的系統培訓即可獨立操作,數分鐘即可完成一個樣品的觀測,大大提升了測試效率。

掃描電子顯微鏡的結構
掃描電子顯微鏡的結構
為透射電鏡是TE進行成像的,這就要求樣品的厚度一定要確保在電子束可以穿透的尺寸范圍內。因此就需要通過各種較為繁雜的樣品制備手段把大尺寸樣品轉變到透射電鏡能給接受的程度。
可不可以直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像,成為科學家追求的目標。
通過努力,這種想法已成為現實——掃描電子顯微鏡(ScanningElectronicMicroscopy,SEM)。
掃描電子顯微鏡(SEM)——運用特別細的電子束在被觀測樣品表面上進行掃描,通過分別收集電子束和樣品相互作用產生的一系列電子信息,通過轉換、放大而成像的電子光學儀器。是探索研究三維表層構造很有幫助的工具。