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影響膜厚測量儀的因素

基體金屬電性質(zhì)

基體金屬的導電性對測量有影響，而基體金屬的導電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標準膜校準儀器。

基體金屬厚度

每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度，測量不受基體金屬厚度的影響。

曲率

試樣的曲率對測量有影響。這種效應總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此，測量彎曲試樣的表面是不可靠的。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

確保測厚儀質(zhì)量的方法：

為了保證設備的質(zhì)量，不僅要保證質(zhì)量的選擇，還要注意在使用中的操作標準，人員的專業(yè)使用必須保證操作的準確性，在操作過程中必須注意及時為主。儀表的維護

在使用該設備時，必須注意每天i打開機器后半小時的熱量。在預熱時間滿足后，數(shù)據(jù)可以保持在一定的誤差范圍內(nèi)，但不能超過此范圍。當產(chǎn)品被測量時，必須確定產(chǎn)品的基材和涂層元素。選擇相應的測量方法，時間必須是標準的，測試產(chǎn)品的表面應該是平滑的，否則會有很大的誤差。