OPTM廠家歡迎來電

頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率（多層膜厚度，光學常數）

1點1秒高速測量

顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外至近紅外）

區域傳感器的安全機制

易于分析向導，初學者也能夠進行光學常數分析

獨立測量頭對應各種inline客制化需求

支持各種自定義

測量項目：

絕i對反射率測量

多層膜解析

光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

1.膜厚測試儀出現下列情況，必需重新校準。　　·校準時，輸入了一個錯誤值；　　·操作錯誤。　　2.在直接方式下，如果輸入了錯誤的校準值，應緊接著做一次測量，隨后再做一次校準，即可獲取新值消除錯誤值。　　3.每一組單元中，只能有一個校準值。　　4.零點校準和二點校準都可以重復多次，以獲得更為精準的校準值，提高測量精度但此過程中一旦有過一次測量，則校準過程便告結束。

膜厚測試儀的預熱 　　關機超過3個小時開機必做。點擊“波數”，將波譜校準片放入儀器，將Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，設定測量時間為6S重復測量次數為30~50次,點擊Go鍵，等待自動連續測量完成。

膜厚測試儀波譜校準 　　不關機狀態下每日必做一次或每次關機3小時以上再次重開機必做，目的讓儀器進行自我補償調整。首先點擊任務欄中的“波譜校準”，然后將波譜校準片放入儀器，將Cu-Ag合金部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點擊Go鍵）。待膜厚測試儀器自動完成每一步，紅色STOP鍵會轉變成綠色GO鍵后，將純Ag部分移至十字線中間，鐳射聚焦，測量（點擊Go鍵），完成后出現“波譜校準成功”字樣的對話框時，點擊“確定”即可。