光譜測厚儀可量尺定做一六儀器1

發(fā)布時間：2020-12-22 06:13

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江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀

下照式設(shè)計：可以快速方便地定位對焦樣品。

無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

接收：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。

精密微型滑軌：快速精準定位樣品。

EFP先進算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

江蘇一六儀器 XTU系列 XTU-BL X熒光光譜儀

儀器規(guī)格：

外形尺寸：550 mm x 660mm x 470 mm （長x寬x高）

樣品倉尺寸：500mm×660 mm ×215mm （長x寬x高）

儀器重量：55kg

供電電源：交流220±5V

功率：330W

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境相對濕度：<70%

EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長和強度實現(xiàn)的，根據(jù)不同元素特征X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡使用，可以對樣品進行微區(qū)成分分析。

常用的EDX探測器是硅滲鋰探測器。當(dāng)特征X射線光子進入硅滲鋰探測器后便將硅原子電離，產(chǎn)生若干電子-空穴對，其數(shù)量與光子的能量成正比。5彩色CCD，變焦功能對焦方式高敏感鏡頭，手動對焦放大倍數(shù)：光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍隨機標(biāo)準片：十二元素片、Ni/Fe5um、Au/Ni/Cu0。利用偏壓收集這些電子空穴對，經(jīng)過一系列轉(zhuǎn)換器以后變成電壓脈沖供給多脈沖高度分析器，并計數(shù)能譜中每個能帶的脈沖數(shù)。

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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

江蘇一六儀器能量色散X射線熒光光譜測厚儀

X射線的產(chǎn)生利用X射線管(圖2)，施加高電壓以加速電子，使其沖撞金屬陽極(對陰極)從而產(chǎn)生X射線。標(biāo)準片應(yīng)與被測試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測試樣基材不同，但前提是標(biāo)準塊基體材料與試樣基材中的主元素相同。從設(shè)計上分為橫窗型(side window type)和縱窗型(end window type)兩種X射線管，都是設(shè)計成能夠把X射線均勻得照射在樣品表面的結(jié)構(gòu)。

X射線窗口，一般使用的是鈹箔。陰極(也叫做:靶材)則多使用是鎢(W)、銠(Rh)、鉬(Mo)、鉻(Cr)等材料。這些靶材的使用是依據(jù)分析元素的不同而使用不同材質(zhì)。原則上分析目標(biāo)元素與靶材的材質(zhì)不同。

江蘇一六儀器專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2. 鍍層層數(shù)：多至 5 層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時間：通常 30 秒。

5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。