ELSZ粒徑設備儀多重優惠

特點

使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時間

通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉移溫度

可測量0～90℃大范圍內的溫度

追加了大范圍的分子量測量及解析功能

懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量

實測cell內的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結果

高鹽濃度溶液的ZETA電位測量

小面積樣品的平板ZETA電位測量

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動態光散射法（光子相關法）

溶液中的粒子會呈現出 依賴于粒徑的布朗運動。因此，當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。

通過光子相關法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現在，ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。