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電池組件的制作流程

高壓測試

高壓測試是指在組件邊框和電極引線間施加一定的電壓，測試組件的耐壓性和絕緣強度，以保證組件在惡劣的自然條件(雷擊等)下不被損壞。

組件測試

測試的目的是對電池的輸出功率進行標(biāo)定，測試其輸出特性，確定組件的質(zhì)量等級。主要就是模擬太陽光的測試(STC)，一般一塊電池板所需的測試時間在7-8秒左右。

影響光伏發(fā)電組件的因素

PID效應(yīng)，電位誘發(fā)衰減效應(yīng)是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)。PID現(xiàn)象嚴(yán)重時，會引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個組串的功率輸出。高溫、高濕、高鹽堿的沿海地區(qū)易發(fā)生PID現(xiàn)象。

單晶硅太陽能電池的光電轉(zhuǎn)換效率為18%左右，

高的達(dá)到24%，這是所有種類的太陽能電池中光電轉(zhuǎn)換效率比較高的，但制作成本很大，以致于它還不能被普遍地使用。由于單晶硅一般采用鋼化玻璃以及防水樹脂進行封裝，因此其堅固耐用，使用壽命可達(dá)25年。

一般來說，太陽電池的發(fā)電量隨著日照強度的增加而按比例增加。隨著組件表面的溫度升高而略有下降。太陽電池組件的峰值功率Wp是指在日照強度為1000W/M2,AM為1.5，組件表面溫度為25℃時的Imax*Umax的值（隨著溫度變化，電池組件的電流、電壓、功率也將發(fā)生變化，組件串聯(lián)設(shè)計時必須考慮電壓負(fù)溫度系數(shù)。

多晶硅太陽能板

在制作多晶硅太陽能板時，作為原料的高純硅不是拉成單品，而是熔化后澆鑄成正方龍日不同取向的晶硅錠，然后使用切割機切成薄片,再加工成電池。由于硅片是由多個不同大小、不同取向的晶粒構(gòu)成,因而多晶硅太陽能板的轉(zhuǎn)換效率要比單晶硅太陽能板低，規(guī)?；a(chǎn)的商品多晶硅太陽能板轉(zhuǎn)換效率七達(dá)到16%～19%。由于其制造成本比較低，所以近年來發(fā)展很快，已成為產(chǎn)量和市場占有平有率的太陽電池。