陽西數字電壓表的設計摘要服務介紹,驅動產品電子驅動ic

數字集成電路設計操作？

C設計，掌握硬件描述語言和數字電路設計基礎知識固然是非常重要的，此外工具的使用也很重要。人和其它動物的重要區別就是，人可以制造和使用工具。借助工具可以大大提高工作效率。

一、介紹

synopsys ic compiler (v2005.linux)是基于Galaxy設計平臺開發的產品。主要的工具有：

LEDA

LEDA是可編程的語法和設計規范檢查工具，它能夠對全芯片的VHDL和Verilog描述、或者兩者混合描述進行檢查，加速SoC的設計流程。 LEDA預先將IEEE可綜合規范、可規范、可測性規范和設計服用規范集成，提高設計者分析代碼的能力

VCS

VCS是編譯型Verilog模擬器，它完全支持OVI標準的Verilog HDL語言、PLI和SDF。net）更重要的是，藉由這個方法可以增加Gate端和下層的接觸面積。 VCS具有目前行業中的模擬性能，其出色的內存管理能力足以支持千萬門級的ASIC設計，而其模擬精度也完全滿足深亞微米ASIC Sign-Off的要求。VCS結合了節拍式算法和事件驅動算法，具有、大規模和的特點，適用于從行為級、RTL到Sign-Off等各個階段。VCS已經將CoverMeter中所有的覆蓋率測試功能集成，并提供VeraLite、CycleC等智能驗證方法。VCS和Scirocco也支持混合語言。VCS和Scirocco都集成了Virsim圖形用戶界面，它提供了對模擬結果的交互和后處理分析。

Scirocco

Scirocco是迄今為止的VHDL模擬器，并且是市場上為SoC驗證度身定制的模擬工具。接著就是檢查程序功能的正確性并持續修改，直到它滿足期望的功能為止。它與VCS一樣采用了革命性的模擬技術，即在同一個模擬器中把節拍式模擬技術與事件驅動的模擬技術結合起來。Scirocco的高度優化的VHDL編譯器能產生有效減少所需內存，大大加快了驗證的速度，并能夠在一臺工作站上模擬千萬門級電路。這一性能對要進行整個系統驗證的設計者來說非常重要。

數字IC自動測試設備

集成電路(Integrated Circuit,IC)測試是集成電路產業的一個重要組成部分,它貫穿IC設計、制造、封裝、應用的全過程。除了通用的南北橋結構外，目前芯片組正向更的加速集線架構發展，Intel的8xx系列芯片組就是這類芯片組的代表，它將一些子系統如IDE接口、音效、MODEM和USB直接接入主芯片，能夠提供比PCI總線寬一倍的帶寬，達到了266MB/s。集成電路晶圓(Wafer Test)測試是集成電路測試的一種重要方法,是保證集成電路性能、質量的關鍵環節之一,是發展集成電路產業的一門支撐技術。而IC自動測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)是實現晶圓測試必不可少的工具。 首先介紹數字IC自動測試設備的硬件系統設計架構,分析了板級子系統的硬件結構及功能。

重點討論了數字IC自動測試設備中兩種關鍵的測試技術:邏輯功能測試和直流參數測量,在系統分析其工作原理和測試方法的基礎上,設計了硬件電路,并通過實驗平臺分別驗證了電路的測試功能。布局規劃后，宏單元、I/OPad的位置和放置標準單元的區域都已確定，這些信息SE（SiliconEnsemble）會通過DEF文件傳遞給(PhysicalCompiler),PC根據由綜合給出的。 在IC自動測試設備中,實現直流參數測量的模塊稱為參數測量單元(Parametric Measurement Unit,PMU)。PMU的測量方法有兩種,加壓測流和加流測壓。為了驗證所設計的直流參數測試單元硬件電路,在的第四章介紹了一種構建簡單自動測試系統的驗證方法。

針對一種DC-DC開關電源轉換芯片,首先詳細分析了該芯片各項參數的測試原理,設計了以MCU作為控制核心、集成2個PMU和其他一些硬件電路的簡單測試板;然后根據芯片的測試要求設計了流程控制程序;后,通過實驗驗證了測試板的PMU能夠滿足參數測量精度要求。而模擬電路IC是處理和提供模擬信號的器件，比如運算放大器、線性穩壓器、基準電壓源等，它們都屬于模擬IC。 的后部分,詳細列出了直流參數測量單元驗證板對19片WAFER的測試統計數據。實驗表明,PMU模塊的電壓測試精度為0.5%以內,微安級電流的測試精度為5%以內,自動測試過程中沒有出現故障。驗證了PMU模塊能夠滿足數字IC自動測試設備的直流參數測試要求。

數字集成電路電流測試

集成電路(IC)被生產出來以后要進行測試。ⅠⅡⅢRegion(I)被稱為早夭期（Infancyperiod）這個階段產品的failurerate快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產過程中的缺陷。IC測試貫穿在IC設計、制造、封裝及應用的全過程,被認為是IC產業的4個分支(設計、制造、封裝與測試)中一個極為重要的組成部分,它已經成為IC產業發展中的一個瓶頸。有人預計,到2012年,可能會有多達48%的好芯片不能通過測試,IC測試所需的費用將在IC設計、制造、封裝和測試的總費用中占80%～90%的比例。 工業界常采用電壓測試和穩態電流(I_(DDQ))測試來測試數字CMOS IC。

電壓測試包括邏輯測試和時延測試兩方面的測試內容,前者驗證IC的功能是否正確,后者驗證IC的時間特性是否正確。在桌上用100個小珠子排成一個10×10的正方形，并且剪裁一張紙蓋在珠子上，接著用小刷子把旁邊的的珠子刷掉，后使他形成一個10×5的長方形。電壓測試方法可以檢測出大量的物理缺陷,而且比較簡單,速度較快。但是,由于電壓測試所使用的故障模型存在局限性,而且測試常常不能全速進行,因此一般來說,電壓測試只善于驗證電路的功能。與電壓測試相比,(I_(DDQ))測試更善于檢測由于生產過程中的細微偏差而導致的一些“小”缺陷,它的優點是能大幅度地降低測試數字CMOS IC的費用,提高它們的可靠性。但是,(I_(DDQ))測試除不能檢測那些不導致(I_(DDQ))增加的缺陷或故障(如串擾故障)之外,還受到深亞微米技術的挑戰。

 瞬態電流(I_(DDT))測試是一種從供電回路,通過觀察被測電路所吸取的瞬間動態電流來檢測故障的一種方法,被認為可以檢測出一些經電壓測試和(I_(DDQ))測試所不能檢測的故障。對于CDN的SiliconEnsemble而言后端設計所需的數據主要有是Foundry廠提供的標準單元、宏單元和I/OPad的庫文件，它包括物理庫、時序庫及網表庫，分別以。這種方法作為傳統的電壓測試和(I_(DDQ))測試方法的一個補充,正逐漸受到研究領域和工業界的關注。 (I_(DDT))測試研究雖然進行了近10年的時間,但目前仍處在初級階段,所面臨的問題很多,離實際應用還有相當一段距離。本研究采用基于積分的平均電流分析法來研究(I_(DDT))測試,進行了一些有益的探索性工作。