您好，歡迎來到易龍商務(wù)網(wǎng)！
發(fā)布時(shí)間：2020-12-31 04:32
【廣告】
手持式光譜儀
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成，由于其便攜具有、便攜、準(zhǔn)確等特點(diǎn)，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費(fèi)品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。
手持式光譜儀要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長(zhǎng)準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進(jìn)行導(dǎo)數(shù)、去卷積等復(fù)雜的數(shù)學(xué)計(jì)算，能夠計(jì)算光譜間相似度、模式識(shí)別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫(kù)并進(jìn)行檢索。由于這款儀器是勘測(cè)元素,那么必需會(huì)要干嗎放樣勘測(cè),因此,技巧員工還需求干嗎好防輻射。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。傳統(tǒng)光譜儀器不但是大型精密、貴重儀器，且對(duì)工作環(huán)境條件(溫度濕度、振動(dòng)、電磁干擾要求嚴(yán)酷,必須要由專業(yè)分析人員)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。
想了解更多關(guān)于手持式光譜儀的相關(guān)資訊，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注本公司。
手持式光譜儀的使用對(duì)使用環(huán)境有哪些特殊要求
任何精密儀器想要測(cè)定出準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，必須在一定的工作條件下運(yùn)行，環(huán)境對(duì)分析儀器的性能、可靠性、測(cè)量結(jié)果和壽命都有很大的影響。而忽視其工作環(huán)境，容易導(dǎo)致儀器故障。因?yàn)橥獠凯h(huán)境的微小變化，都會(huì)對(duì)數(shù)據(jù)測(cè)定的穩(wěn)定性帶來變化；外部環(huán)境變化嚴(yán)重時(shí)還會(huì)對(duì)儀器造成損壞，縮短儀器的使用壽命，手持式光譜儀也不例外。2、采用FPGA、DSP及ARM處理器，手持光譜儀具有超高速數(shù)據(jù)采集分析功能，并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光室溫度、真空度、ya氣壓力、、激發(fā)光源等模塊的運(yùn)行狀況。
手持式光譜儀在使用的時(shí)候，對(duì)于環(huán)境是有一定的要求，不要在潮濕的環(huán)境下工作的，環(huán)境濕度0-95%之間為zui好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾，如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以，大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度，很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。 手持式光譜儀對(duì)于操作人員也是要一定要求的，測(cè)試樣品前一定要請(qǐng)儀器廠商的技術(shù)人員現(xiàn)場(chǎng)演示，并且對(duì)技術(shù)人員做操作前的培訓(xùn)。手持光譜儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)制造商的各種制造業(yè)。因?yàn)檫@款儀器是檢測(cè)元素，那么一定會(huì)要做放樣檢測(cè)，這對(duì)人體來說是有一定的為還在用，所以，技術(shù)人員還需要做好防輻射。
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無輻射效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。在此基礎(chǔ)上進(jìn)一步維修復(fù)雜的而繁瑣主電路或線路，如變壓器、繼電器、接觸器、電磁閥、壓力傳感器、過壓(限壓)保護(hù)開關(guān)、流量傳感器等主控電路或線路。
由于電子元器件特別是集成電路要求在合適的溫度范圍內(nèi)工作，因此為保證儀器的精密度和延長(zhǎng)其使用壽命，應(yīng)讓儀器始終處于符合要求的環(huán)境溫度。手持式光譜儀在工作過程中如果超過了環(huán)境溫度的設(shè)定范圍，就會(huì)出現(xiàn)儀器尋峰不準(zhǔn)無法分析、測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)據(jù)時(shí)高時(shí)低等故障現(xiàn)象。時(shí)間證明，溫度不穩(wěn)定、變化太大大可使樣品檢測(cè)出的數(shù)據(jù)超出了標(biāo)本10%以上。現(xiàn)在的質(zhì)量好點(diǎn)的儀器隨便都是幾十萬人民1幣，如果為了節(jié)約那點(diǎn)電而使儀器受潮那就得不償失了。
手持式光譜儀用于定性分析的方法
手持式光譜儀是利用光的色散、吸收、散射等現(xiàn)象得到與被分析物質(zhì)有關(guān)的光譜，對(duì)物質(zhì)成分、結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析、測(cè)量的物理光學(xué)儀器。手持光譜儀的定性分析是指:由于各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同，在光源的作用下都可以產(chǎn)生自己特征的光譜。如果一個(gè)樣品經(jīng)過激發(fā)攝譜在感光板上有幾種元素的譜線出現(xiàn)，就證明該樣品中有這幾種元素。2、在某些要求下,可測(cè)定元素的存在伎倆,如測(cè)定鋼鐵中的酸溶鋁、酸不溶鋁等。這樣的分析方法就叫做光譜定性分析方法。
手持光譜儀用于定性分析方法有比較光譜分析法:這種方法應(yīng)用比較廣泛，它包括標(biāo)準(zhǔn)試樣比較法和鐵譜比較法。標(biāo)準(zhǔn)樣品比較法一般適用于單項(xiàng)定性分析及有限分析。鐵譜比較法它不但可以做單項(xiàng)測(cè)定還便于做全分析。光譜儀標(biāo)準(zhǔn)前面對(duì)X射線熒譜儀分析中的度來源進(jìn)行了介紹，下面介紹幾個(gè)主要過程的標(biāo)準(zhǔn)度估計(jì)方法。手持光譜儀譜線波長(zhǎng)測(cè)量法:光譜分析儀器利用譜線波長(zhǎng)測(cè)量法進(jìn)行定性分析是先測(cè)出某一譜線的波長(zhǎng)，再查表確定存在的元素，這種方法在日常分析中很少使用，- 般只是在編制譜圖或者做仲裁分析時(shí)才用。
一般來講手持光譜儀定性分析可以分析元素周期表 上的70幾個(gè)元素，但由于受到儀器和光源條件的限制有些元素如非金屬及鹵族元素等則需要在特殊的條件下才能測(cè)定。手持光譜儀定性分析的樣品可以是多種多樣的，所以手持光譜儀光譜定性采用的方法各不相同，對(duì)于易導(dǎo)電的金屬試樣可以將試樣本身作為電極直接用直流電孤或交流電孤光源分析。有時(shí)為了不損壞試樣也可以采用火花和激光顯微光源分析。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所開釋的能量不被原子內(nèi)攝取,而因此光子方式發(fā)出,便形成X射線熒光,其能量相等兩能級(jí)之間的能量差。
如需了解更多手持式光譜儀的相關(guān)內(nèi)容，歡迎撥打圖片上的熱線電話！
