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發布時間:2021-06-15 02:30  
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華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統;自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作),計算機可以記錄測試結果,測試結果可轉化為文本格式存儲,測試方法靈活(可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試),安全穩定(對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖),具有安全保護功能,測試速度方便快捷。IGBT動態參數測試系統技術要求1、設備概述該設備用于功率半導體模塊(IGBT、FRD、肖特基二極管等)的動態參數測試,以表征器件的動態特性,通過測試夾具的連接,實現模塊的動態參數測試。

欲測知元件老化,所須提供的測量范圍為何? 當大功率元件在作導通參數的測試時,電流必須大到其所能承受的正常工作值,同時,在作關閉參數的漏電流測試時,電壓也必須夠高,以元件在真正工作狀態下的電流與電壓,如此其老化的程度才可顯現。三、華科智源IGBT測試儀系統特征: A:測量多種IGBT、MOS管 B:脈沖電流1200A,電壓5KV,測試范圍廣。當這兩個參數通過后,便表示元件基本上良好,再進一步作其他參數的測量,以分辨其中的優劣。建議進行高溫測試,模擬器件使用工況,更為準確的判斷器件老化程度。

參數名稱 符號 參數名稱 符號
開通延遲時間 td(on) 關斷延遲時間 td(off)
上升時間 tr 下降時間 tf
開通時間 ton 關斷時間 toff
開通損耗 Eon 關斷損耗 Eoff
柵極電荷 Qg
短路電流 ISC / /
可測量的FRD動態參數
反向恢復電流 IRM 反向恢復電荷 Qrr
反向恢復時間 trr 反向恢復損耗 Erec

8)高壓大功率開關
?電流能力 200A
?隔離耐壓 10kV
?響應時間 150ms
?脈沖電流 20kA(不小于10ms)
?工作方式 氣動控制
?工作氣壓 0.4MPa
?工作溫度 室溫~40℃
?工作濕度 <70%
9)尖峰抑制電容
用于防止關斷瞬態過程中的IGBT器件電壓過沖。
?電容容量 200μF
?分布電感 小于10nH
?脈沖電流 200A
?工作濕度 <70%
