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發布時間:2020-11-05 02:09  
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華科智源IGBT測試儀針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統;在調試期間發現元件有缺陷或受到損壞,應由賣方負責免費更換并予以賠償。自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作),計算機可以記錄測試結果,測試結果可轉化為文本格式存儲,測試方法靈活(可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試),安全穩定(對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖),具有安全保護功能,測試速度方便快捷。

測試的IGBT參數包括:ICES(漏流)、BVCES(耐壓)、IGESF(正向門極漏流)、IGESR(反向門極漏流)、VGETH(門檻電壓/閾值)、VGEON(通態門極電壓)、VCESAT(飽和壓降)、ICON(通態集極漏流)、VF(二極管壓降)、GFS(跨導)、rCE(導通電阻)等全直流參數, 所有小電流指標保證1%重復測試精度, 大電流指標保證2%以內重復測試精度。可移動型儀器,使用方便,測試簡單快速,立即提供測試結果與數值。
半導體元件全自動測試系統,可以元件在真正工作狀態下的電流及電壓,并測量重要參數的數據,再與原出廠指標比較,由此來判定元件的好壞或退化的百分比。每個電流模塊,都具有獨立的供電系統,以便在測試時,提供內部電路及電池組充電之用; 可選購外部高壓模塊,執行關閉狀態參數測試如:各項崩潰電壓與漏電流測量達2KV。3電流持續時間It:10~1000us單個脈沖或雙脈沖的總時間。

參數名稱 符號 參數名稱 符號
開通延遲時間 td(on) 關斷延遲時間 td(off)
上升時間 tr 下降時間 tf
開通時間 ton 關斷時間 toff
開通損耗 Eon 關斷損耗 Eoff
柵極電荷 Qg
短路電流 ISC / /
可測量的FRD動態參數
反向恢復電流 IRM 反向恢復電荷 Qrr
反向恢復時間 trr 反向恢復損耗 Erec
