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發布時間:2020-12-26 13:09  
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方箱PECVD簡介
該系統為單室薄膜太陽電池等離子增強化學氣相沉積(PECVD)工藝研發設備,用來在硅片上沉積SiOx、SiNx、非晶硅、多晶硅、碳材料等薄膜,鍍膜樣品為156×156mm基片(并向下兼容)。
設備概述:
1.系統采用單室方箱式結構,手動前開門;
2.真空室:尺寸為350mm×350×280mm;
3.極限真空度:≤6.67x10-4 Pa (經烘烤除氣后,采用分子泵抽氣);
系統真空檢漏漏率:≤5.0x10-7Pa.l/S; 系統從大氣開始抽氣到5.0x10-3 Pa,35分鐘可達到
(采用分子泵抽氣,分子泵不配,預留分子泵接口); 停泵關機12小時后真空度:≤5 Pa(采用分子
泵抽氣,分子泵不配,預留分子泵接口);
4.采用樣品在下,噴淋頭在上噴淋式進氣方式;
5.樣品加熱加熱溫度:300℃,溫控精度:±1°C,采用日本進口控溫表進行控溫;
6.噴淋頭尺寸:200×200mm,噴淋頭與樣品之間電極間距20-80mm連續可調;
7. 沉積工作真空:13-1300Pa;
8.氣路設有勻氣系統,真空室內設有保證抽氣均勻性抽氣裝置;
9.射頻電源:頻率 13.56MHz,功率500W,全自動匹配;
10.SiH4、NH3、CO2、N2、H2、PH3、B2H6、七路氣體,共計使用7個質量流量控制器控制進氣。
11. 系統設有尾氣處理系統(高溫裂解方式)。
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ICP刻蝕機簡介
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一.系統概況
該系統主要用于常規尺寸樣片(不超過Φ6)的刻蝕,可刻蝕的材料主要有SiO2、Si3N4、多晶硅、
硅、SiC、GaN、GaAs、ITO、AZO、光刻膠、半導體材料、部分金屬等。設備具有選擇比高、刻
蝕速率快、重復性好等優點。具體描述如下:
1.系統采用單室方箱式結構,手動上開蓋結構;
2.真空室組件及配備零部件全部采用鋁材料制造,真空尺寸為400mm×400×197mm,
內腔尺寸Ф340mm×160mm;
3.極限真空度:≤6.6x10-4 Pa (經烘烤除氣后,采用FF160/600分子泵抽氣);
系統真空檢漏漏率:≤5.0x10-7 Pa.l/S;
系統從大氣開始抽氣到5.0x10-3 Pa,20分鐘可達到(采用分子泵抽氣);
停泵關機12小時后真空度:≤5 Pa;
5.樣品水冷:由循環水冷水機進行控制;
7.ICP頭尺寸:340mm mm,噴淋頭與樣品之間電極間距50mm;
8. 沉積工作真空:1-20Pa;
9. 氣路設有勻氣系統,真空室內設有保證抽氣均勻性抽氣裝置;
10. 射頻電源:2臺頻率 13.56MHz,功率600W,全自動匹配;
11. 6路氣體,共計使用6個質量流量控制器控制進氣。
氣體:氦氣/氧氣/四氟化碳/六氟化硫
12. 刻蝕速率
SiO2:≥0.5μm/min
Si:≥1μm/min
光刻膠:≥1μm/min
13. 刻蝕不均勻性:
優于±5%(Φ4英寸范圍內)
優于±6%(Φ6英寸范圍內)
14. 選擇比
CF4的選擇比為50,