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千分尺內(nèi)的螺紋非常精密

　　使用千分尺注意事項

1．千分尺是一種精密的量具，使用時應(yīng)小心謹(jǐn)慎，動作輕緩，不要讓它受到打擊和碰撞。千分尺內(nèi)的螺紋非常精密，使用時要注意：①旋鈕和測力裝置在轉(zhuǎn)動時都不能過分用力；②當(dāng)轉(zhuǎn)動旋鈕使測微螺桿靠近待測物時，一定要改旋測力裝置，不能轉(zhuǎn)動旋鈕使螺桿壓在待測物上；③當(dāng)測微螺桿與測砧已將待測物卡住或旋緊鎖緊裝置的情況下，決不能強(qiáng)行轉(zhuǎn)動旋鈕。

工作中經(jīng)常用的千分尺,學(xué)名應(yīng)該叫螺旋測微器

工作中經(jīng)常用的千分尺，學(xué)名應(yīng)該叫螺旋測微器，它是依據(jù)螺旋放大的原理制成的，即螺桿在螺母中旋轉(zhuǎn)一周，螺桿便沿著旋轉(zhuǎn)軸線方向前進(jìn)或后退一個螺距的距離。因此，沿軸線方向移動的微小距離，就能用圓周上的讀數(shù)表示出來。作為精密測量工具，千分尺（又稱螺旋測微器）被廣泛用于精密加工之中。并被業(yè)內(nèi)人所熟知著，然而測量值本就不是個，只有正確使用了測量工具才能無窮大的去接近他的真身。因此，了解千分尺的使用規(guī)范和使用方法在學(xué)習(xí)和日常生活中很重要。

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程

游標(biāo)卡尺的基本發(fā)展過程如下：

現(xiàn)代測量價值的游標(biāo)卡尺一般認(rèn)為是由法國人約尼爾·比爾發(fā)明的。他是一名數(shù)學(xué)家，在他的專著《新四分圓的結(jié)構(gòu)、利用及特性》中記述了游標(biāo)卡尺的結(jié)構(gòu)和原理，而他的名字Vernier變成了英文的游標(biāo)一詞沿用至今。1851年由美國Brown & Sharpe 公司將Nonuth 及 Vernier 兩個構(gòu)想制造出支游標(biāo)卡尺，后由德國Masuer兵工廠加以改良制造，是工程上應(yīng)用廣的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游標(biāo)卡尺。1856年日本也普及了游標(biāo)卡尺，游標(biāo)卡尺的制造技術(shù)逐漸更新迅速提高，使之成為了通用性的長度。19世紀(jì)中葉，美國機(jī)械工業(yè)快速發(fā)展，美國夏普機(jī)械有限公司創(chuàng)始人與1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游標(biāo)卡尺，其精度達(dá)到了0.001毫米。

當(dāng)弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直

當(dāng)碰撞或跌落造成弓形架變形而引起平行度超差時(判斷的方法是工作面的表面粗糙度、平面度很好，但用四個平行平晶檢平行度時四次的平行度都大大超差)，再用一般方法修復(fù)平行度就很費時力了。我們知道，平行度合格的外徑千分尺其兩工作面均與測桿軸線垂直，當(dāng)弓形架變形后測桿工作面仍與測桿軸線垂直，但固定測砧的工作面則與測桿軸線不垂直了。因此，快速修復(fù)的途徑有兩種，種是用敲擊法(上下變形)或臺鉗(左右變形)校正變形的弓形架；第二種是調(diào)整固定測砧的位置，使其工作面與測桿軸線垂直。方法是固定測砧打出來，然后用圓銼把與其配合的孔略銼大些，使固定測砧能在孔內(nèi)上下左右進(jìn)行徑向偏擺調(diào)整，用任一平行平晶進(jìn)行平行度檢定，用手在徑向調(diào)整固定測砧位置，通過平行平晶觀察兩工作面的平行度，待調(diào)整至平行度合格后用膠水固定測砧即可。用本方法一般都能使平行度修復(fù)至2 微米以內(nèi)。如果由于用膠水固定時位置發(fā)生輕微變化導(dǎo)致平行度略微超差，則可將研磨器與測微螺桿工作面接觸的一面涂上潤滑油，只在與固定測砧面接觸的一面涂研磨劑進(jìn)行研磨就可以很快修復(fù)。