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發布時間:2020-12-20 02:31  
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一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
能量色散X熒光光譜儀定義及原理
X射線熒光光譜儀是一種可以對多元素進行快速同時測定的儀器。這個方法是測定幾點實際的已知濃度樣品,尋求想測定元素的熒光X射線強度和濃度之間的關系,以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線,從而得到濃度值。試樣受X射線照射后,其中各元素原子的內殼層(K,L或M層)電子被激發逐出原子而引起電子躍遷,并發射出該元素的特征X射線熒光。每一種元素都有其特定波長的特征X射線。能散型X射線熒光光譜儀(EDXRF)利用熒光X射線具有不同能量的特點,由探測器本身的能量分辨本領來分辨探測到的X射線。
江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀 一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系!
1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘
2濾光片程控交換系統根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創探測器窗口
3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器,程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)
5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測厚儀
性能優勢:
下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
jie shou 器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩定性。
EFP先進算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
統計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、max值、min值、數據變動范圍、CP、數據編號、CPK、控制上限圖、控制下限圖數據分組、X-bar/R圖表直方圖數據庫存儲功能
-系統安全監測功能Z軸保護傳感器樣品室門開閉傳感器操作系統多級密碼操作系統:操作員、分析員、工程師-任選軟件統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量材料鑒別和分類檢測材料和合金元素分析檢測。

江蘇一六儀器 專業涂鍍層研發、生產、銷售高新技術企業。其中穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。
單鍍層:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
雙鍍層:Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
三鍍層:Au/Ni/Cu/ABS,Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等
一、功能
1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度,測量方法滿足
GB/T 16921-2005 標準(等同 ISO3497:2000、 ASTM B568 和 DIN50987)。
2. 鍍層層數:多至 5 層。
3. 測量點尺寸:圓形測量點,直徑約 0.2—0.8毫米。
4. 測量時間:通常 30 秒。
5. 測量誤差:通常小于 5%,視樣品具體情況而定。
6. 可測厚度范圍:通常 0.01 微米到 30 微米,視樣品組成和鍍層結構而定。
