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發布時間：2020-08-22 17:01
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大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！
基本規格
(1) 測試樣品及環境
(a) 樣品：粉狀樣品
(2) 儀器的功能
(a) 激發熒光樣品，對熒光光譜進行測試。
(b) 為了消除積分球內反射的激發光而激發的熒光，配有“再激發修正”功能。
(c) 具有對樣品的量子效率、反射、吸收作測試的功能。
(d) 樣品設置采用手動方式。
(e) 可實現控溫和量子效率測試同步進行的功能。
(3) 儀器的構成
(a) 暗箱內部置有積分球光學系統。
(4) 溫控單元
(a) 50 ℃～300℃(cell部分)
(b) 采用加熱器加熱、風冷制冷。
(c) 溫控部分的周圍采用冷卻水循環、斷熱。
(d) 控制用溫度探頭是一個具備獨立的防止過度升溫的溫度探頭。
光纖在極度彎曲后會有可能發生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發波長設置到可視光范圍內確認。
原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實現任意波段的激發光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對產生的發光光譜進行測試并對其熒光材料特性做出評價。本系統采用了具有高靈敏度、高穩定的本公司的光譜儀對光譜進行測量。
產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。
