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發布時間：2020-10-13 19:44
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一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題
軟件算法
?大致分為3個方法。一個是制作測量線的方法（經驗系數法）。這個方法是測定幾點實際的已知厚度樣品，尋求想測定元素的熒光X射線強度和厚度之間的關系，以其結果為基礎測定未知樣品取得熒光X射線，從而得到濃度值。
?另一個方法是理論演算的基礎參數法（FP法）。這個方法在完全了解樣品的構成和元素種類前提，利用計算的各個熒光X射線強度的理論值，推測測定得到未知樣品各個元素的熒光X射線強度的組成一致。
?NBS-GSC法也稱作理論Alpha系數法。它是基于熒光X射線激發的基本原理，從理論上使用基本物理參數計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線熒光強度的。基于此再計算Lachance綜合校正系數，然后使用這些理論α系數去校正元素間的吸收增強。波長色散型是由色散元件將不同波長的特征X射線衍射到不同的角度上，探測器需移動到想要的位置上來探測某一波長能量的射線。它與經驗系數法不同，這些校正系數是從“理論”上取得的，而非建立在“經驗”上。因而它也不需要那么多的標樣，只要少數標樣來校準儀器因子。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。
先進的技術，專業的團隊，嚴格的企業管理是公司得以不斷發展壯大、產品能夠贏得客戶信賴的根本所在。
一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系！
二． 磁感應測量原理鍍層厚度分析儀
采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。005um性能優勢精密的三維移動平臺卓越的樣品觀測系統先進的圖像識別輕松實現深槽樣品的檢測四種微孔聚焦準直器，自動切換雙重保護措施，實現無縫防撞采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試精度全自動智能控制方式，一鍵式操作。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。磁性原理測厚儀可應用來測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點
1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數10S-1分鐘，分析精度高。
2.可測試超薄的鍍層。
3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對于樣品可進行連續多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。
6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區別
7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。
8.可以對樣品進行測試
9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發鍍層標樣
