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發布時間：2020-12-09 09:06
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廣州景頤光電科技有限公司是全球的光學光電檢測儀器行業公司，專業服務于照明電器、LED行業、化學、環保、生物、水質分析及新能源等領域，提供行業咨詢、產品銷售、售后服務和風險控制。
全光譜透過率檢測儀采用先進的光譜測量技術，是目前市場上性價比高的透過率專用檢測儀器。適用于各種光學元件、平面玻璃、濾光片、IR油墨孔鍍膜鏡片、顯示屏、手機屏、觸摸面板、塑料、硅膠材料等產品透過率測量。
透光率檢測儀
無論是透明薄膜還是吸收薄膜,薄膜還是厚膜,介質薄膜還是半一導體薄膜,晶態薄膜T還是非晶態薄膜,固體薄膜、液體薄膜還是氣體薄膜等等,只要能很方便地測出它們的透射光譜,就能采用透射光譜法來測量它們的參數。但對一些反射率很大的薄膜(如金屬薄入(nm)膜等)就不宜采用透射光譜法。太陽片透過率計
在用透射光譜法測量薄膜參數中,的情況就是測沉積在透明基底上的透明薄膜,即在所測的光譜范圍內薄膜的吸收可以忽略,消光系數k=20。太陽片透過率計
若薄膜的吸收系數很大,則膜不能太厚,否則透射率太小;基底一般是透明的。若存在吸收,則吸收系數不能很大,否則透射率也會太小(因基底很厚)。太陽片透過率計
在眾多的薄膜厚度和光學常數的測量方法中,透射光譜法由于測量范圍廣、精度高、測試簡單、測量條件的非苛刻性、非接觸性、可同時確定薄膜光學常數和厚度等突出優點而得到廣泛采用。因此,本文采用透射光譜法來確定薄膜的厚度和光學常數。太陽片透過率計
光譜法又分反射光譜法和透射光譜法。反射光譜法和透射光譜法都是用分光光度計測出光在垂直入射條件下(也有用斜入射光的,但一般用垂直入射光,因為此時可不必考慮光的偏振態)的反射或透射光譜曲線太陽片透過率計
