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發(fā)布時(shí)間：2020-07-31 13:45
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一六儀器 專業(yè)測(cè)厚儀 多道脈沖分析采集,先進(jìn)EFP算法 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀
應(yīng)用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車(chē)電子領(lǐng)域.EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。測(cè)試膜，又名X射線熒光光譜儀樣品薄膜，邁拉膜，麥拉膜，XRF測(cè)試薄膜，XRF樣品膜，樣品薄膜，EDX薄膜，EDX樣品薄膜，ROHS檢測(cè)膜，光譜儀樣品薄膜。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是工業(yè)和科研使用廣泛的測(cè)厚儀器。采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系，據(jù)此，可以進(jìn)行元素定量分析。
X-RAY測(cè)厚儀特點(diǎn)
1，價(jià)格高，機(jī)種不同，價(jià)格在10萬(wàn)~100萬(wàn)左右，可測(cè)試P（磷）~U（鈾），并且支持Rohs及元素分析功能等。
2，無(wú)損檢測(cè)，Windows操作系統(tǒng)，使用簡(jiǎn)便。操作快速，能適應(yīng)多類(lèi)鍍層，大量檢測(cè)，但體積較大，計(jì)算機(jī)除外約100000cm2，50000g左右。
3，測(cè)量厚度范圍較廣，
0.002um~100um左右，能測(cè)試5層以上膜厚，并且可以測(cè)量合金鍍層，也可分析鍍層元素和含量比。
4，測(cè)量精度高，1%左右，分辨率高，0.001um左右。
5，測(cè)頭的面積較小，對(duì)需測(cè)的樣品要求不高：0.1mmψ以下也可測(cè)量，基材厚度無(wú)要求。
6，可編程XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售的高新技術(shù)企業(yè)。
X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常見(jiàn)分析儀器。通常認(rèn)為X區(qū)域0.01-10nm之間的一段電磁波譜，短波邊以伽馬射線為界，長(zhǎng)波邊與真空紫外線區(qū)域的實(shí)際界線。
X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
1、一種真正意義上 的無(wú)損分析，在分過(guò)程中不會(huì)改變樣品的化學(xué)形態(tài)。具有不污染、節(jié)能低耗等優(yōu)點(diǎn)。
2、分析速度快，無(wú)須進(jìn)行樣品預(yù)處理，升值無(wú)須樣品的制備，X射線熒光光譜分析可以篩選大量的樣品。一般情況下檢測(cè)在3分鐘以下。
3、自動(dòng)化程度高。
4、可以同時(shí)測(cè)定樣品中的多種元素。
5、隨著分析技術(shù)的發(fā)展，儀器可以滿足很多行業(yè)的需求。如：地質(zhì)礦產(chǎn)，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、鍍層等諸多行業(yè)。
6、樣品的形態(tài)廣。
7、X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散譜儀和能量色散譜儀可以滿足各行個(gè)元素的需求。
8、X射線熒光光譜儀中的能量色散儀是低分辨率光譜儀已是在線分析的選擇儀器之一。
江蘇一六儀器 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 元素分析范圍：氯（CI）- 鈾（U）
厚度分析范圍：各種元素及有機(jī)物
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀（國(guó)產(chǎn)）是一款針對(duì)金屬電鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫等）厚度的，通過(guò)X熒光照射出產(chǎn)品，每個(gè)元素反射出的二次特征譜線，通過(guò)檢測(cè)器分析出強(qiáng)度來(lái)金屬鍍層的厚度，完全達(dá)到無(wú)損、快速分析的效果，產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于電子電器、五金工具、電鍍企業(yè)（鋁平行管、電鍍五金），連接器企業(yè)、開(kāi)關(guān)企業(yè)等?？煽啃愿撸河捎跍y(cè)試過(guò)程無(wú)人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。
x射線熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
minimum φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)x射線熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
分析含量一般為2ppm到99.9%
