中堂鎮(zhèn)車載數(shù)字計數(shù)器值得信賴「多圖」

?數(shù)字IC是什么？

數(shù)字IC就是傳遞、加工、處理數(shù)字信號的IC，是近年來應用廣、發(fā)展快的IC品種，可分為通用數(shù)字IC和專用數(shù)字IC。

模擬IC則是處理連續(xù)性的光、聲音、速度、溫度等自然模擬信號的IC，模擬IC按應用來分可分為標準型模擬IC和特殊應用型模擬IC。如果按技術(shù)來分的話，模擬IC可分為只處理模擬信號的線性IC和同時處理模擬與數(shù)字信號的混合IC。

標準型模擬IC包括放大器，電壓調(diào)節(jié)與參考對比，信號界面，數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換，比較器等產(chǎn)品；特殊應用型模擬IC主要應用在通信、汽車、電腦周邊和消費類電子等四個領(lǐng)域。

簡單總結(jié)一下二者的區(qū)別：數(shù)字電路IC就是處理數(shù)字信號的器件，比如CPU、邏輯電路等；而模擬電路IC是處理和提供模擬信號的器件，比如運算放大器、線性穩(wěn)壓器、基準電壓源等，它們都屬于模擬IC。簡單總結(jié)一下二者的區(qū)別：數(shù)字電路IC就是處理數(shù)字信號的器件，比如CPU、邏輯電路等。模擬IC處理的信號都具有連續(xù)性，可以轉(zhuǎn)換為正弦波研究，而數(shù)字IC處理的是非連續(xù)性信號，都是脈沖方波。

不同數(shù)字器件有不同的制程, 所以需要不同的供電電壓, 因此更需要電源管理這一模擬技術(shù)，隨著數(shù)字技術(shù)的發(fā)展, 模擬技術(shù)分布于數(shù)字技術(shù)周邊, 與數(shù)字技術(shù)密不可分。

ic的質(zhì)量評估標準

具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標準：

JESD22-A108-AEAJED- 4701-D101②HTOL/ LTOL：高/低溫操作生命期試驗（High/ Low Temperature Operating Life ）

目的: 評估器件在超熱和超電壓情況下一段時間的耐久力

測試條件: 125℃，1.1VCC, 動態(tài)測試

失效機制：電子遷移，氧化層，相互擴散，不穩(wěn)定性，離子玷污等

參考標準：

125℃條件下1000 小時測試通過IC 可以保證持續(xù)使用4 年，2000 小時測試持續(xù)使用8年；150℃ 1000小時測試通過保證使用8年，2000小時保證使用28年。

具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標準

MIT-STD-883E Method 1005.8

JESD22-A108-A

二、環(huán)境測試項目（Environmental test items）

PRE-CON, THB, HAST, PCT, TCT, TST, HTST, Solderability Test,Solder Heat Test

①PRE-CON:預處理測試（ Precondition Test ）

目的: 模擬IC在使用之前在一定濕度，溫度條件下存儲的耐久力，也就是IC從生產(chǎn)到使用之間存儲的可靠性。

測試流程（Test Flow）:

Step 1:超聲掃描儀 SAM (Scanning Acoustic Microscopy)

Step 2: 高低溫循環(huán)（Temperature cycling ）-40℃(or lower) ~ 60℃(or higher) for 5 cycles to simulate shipping conditi

Step 3:烘烤（ Baking ）At minimum 125℃ for 24 hours to remove all moisture from the package

Step 4: 浸泡（Soaking ）

數(shù)字IC低功耗物理設(shè)計

隨著集成電路生產(chǎn)工藝的迅速發(fā)展,功耗作為芯片質(zhì)量的重要衡量標準引起了國內(nèi)外學者越來越多的重視和研究。當晶體管的特征尺寸減小到納米級時,其泄露電流的增加、工作頻率的提高和晶體管門數(shù)的攀升極大提高了芯片的功耗。其中IC系統(tǒng)設(shè)計難掌握，它需要多年的IC設(shè)計經(jīng)驗和熟悉那個應用領(lǐng)域，就像軟件行業(yè)的系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計一樣，而RTL編程和軟件編程相當。同時,傳統(tǒng)的基于UPF(Unified Power Format)的低功耗設(shè)計流程存在著效率低、可修復性差等缺點。針對以上問題,以14 nm工藝下數(shù)字芯片fch_sata_t模塊為例,簡要介紹了全新的基于CUPF(Ctant UPF)的低功耗物理設(shè)計流程,利用門控電源和多電源電壓等技術(shù)對芯片進行低功耗設(shè)計。終,通過Synopsys旗下PrimetimePX提供功耗分析結(jié)果,證明了芯片功耗滿足設(shè)計要求。

深圳瑞泰威科技有限公司是國內(nèi)IC電子元器件的代理銷售企業(yè)，專業(yè)從事各類驅(qū)動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售，品類齊全，具備上百個型號。具體的測試條件和估算結(jié)果可參考以下標準MIT-STD-883EMethod1005。與國內(nèi)外的東芝、恩智浦、安森美、全宇昕、上海晶準等均穩(wěn)定合作，保證產(chǎn)品的品質(zhì)和穩(wěn)定供貨。自公司成立以來，飛速發(fā)展，產(chǎn)品已涵蓋了工控類IC、光通信類IC、無線通信IC、消費類IC等行業(yè)。

ESD保護電路的數(shù)字邏輯芯片檢測

數(shù)字電子技術(shù)是普通高校電子類相關(guān)專業(yè)的必修課程,主要包含組合邏輯電路和時序邏輯電路兩部分內(nèi)容及其應用。2MIT-STD-883EMethod1033在了解上述的IC測試方法之后，IC的設(shè)計制造商就需要根據(jù)不用IC產(chǎn)品的性能，用途以及需要測試的目的，選擇合適的測試方法，的降低IC測試的時間和成本，從而有效控制IC產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠度。數(shù)字電子技術(shù)又是一門實踐性很強的課程,需要學生動手做實驗來加深對數(shù)字邏輯芯片工作原理的理解。數(shù)字電路實驗離不開數(shù)字邏輯芯片,很多高校每年都會采購一批數(shù)字邏輯芯片,芯片復用率很低,造成了數(shù)字邏輯芯片的嚴重浪費。

數(shù)字電路實驗會使用到許多不同類型的數(shù)字邏輯芯片。由于儲存方法不當、實驗平臺不完善、學生不規(guī)范操作等原因,數(shù)字邏輯芯片經(jīng)常發(fā)生損壞。由于其故障類型多樣、檢測過程繁瑣,因此實驗室管理人員難以及時排查故障芯片。在傳統(tǒng)的做法中（左上圖），接觸面只有一個平面，但是采用FinFET（Tri-Gate）這個技術(shù)后，接觸面將變成立體，可以輕易的增加接觸面積，這樣就可以在保持一樣的接觸面積下讓Source-Drain端變得更小，對縮小尺寸有相當大的幫助。本文基于芯片ESD保護原理、故障字典法研究設(shè)計了一種數(shù)字邏輯芯片自動化檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)可檢測數(shù)字邏輯芯片是否有短路、斷路和邏輯功能錯誤等故障,并可確定具體的故障引腳位置,通過LCD液晶屏或上位機將檢測結(jié)果展示給用戶。經(jīng)過實際的試驗和數(shù)據(jù)分析可以得出:該檢測系統(tǒng)可以較好地檢測數(shù)字邏輯芯片故障,單枚芯片檢測時間大約為3秒,且檢測準確率高達99.4%、運行功耗低至0.44W。非常適合在開設(shè)數(shù)字電子技術(shù)課程的高校中推廣應用,同時也可用于芯片制造公司的成品檢測。