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              鹽城光譜測厚儀免費咨詢

              發布時間:2020-10-28 16:20  

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              X射線熒光鍍層測厚儀  

              一六儀器快速精準分析膜厚儀穩定的多道脈沖分析采集系統,先進的解譜方法,解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析

              微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件.

              測厚儀分類:


              1.超聲波測厚儀超聲波在各種介質中的聲速是不同的,但在同一介質中聲速是一常數。超聲波在介質中傳播遇到第二種介質時會被反射,測量超聲波脈沖從發射至接收的間隔時間,即可將這間隔時間換算成厚度。2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,滄州歐譜從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態計量儀器。在電力工業中應用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度,也用于校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的,體積與小型半導體收音機相近,厚度值的顯示多是數字式的。對于鋼材,大測定厚度達2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之間。

              2.磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時,測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。




              X射線熒光光譜法原理研究


              一六儀器  光譜測厚儀研發生產廠家  一六儀器一liu品質,可同時檢測多層材料鍍層厚度(含有機物)及成分.操作簡單方便.厚度含量測試只需要幾秒鐘,多小多復雜的樣品輕松搞定,歡迎來電咨詢!

              X射線

                 德國物理學家倫琴在研究稀薄氣體放電實驗時,采用了一種特殊裝置,此裝置發射電子,在陰極相對的位置裝置金屬陽極,在陰陽兩極之間加以高電壓,當容器充有稀薄氣體時,氣體中可觀察到放電現象,試驗中發現的這種未知射線,倫琴命名為X射線。第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經環境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。對X射線定義為:電子在原子核附近加速或核外內層電子能級間發生躍遷時所發射的電磁輻射。






              江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。

              我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗,經與海內外多名專家通力合作,研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀。穩定的多道脈沖分析采集系統、先進的解譜方法和EFP算法結合精準定位及變焦結構設計,解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題。廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。

              涂層測厚儀操作規程有哪些

                我們在使用涂層測厚儀時,如果不了解涂層測厚儀的操作規程,那么就很容易出現一些問題,甚至嚴重的可能會對自身產生威脅,那么涂層測厚儀的操作規程有哪些,下面就來了解下先:


              一、維護及注意事項

                1. 應避免儀器及測頭受到強烈震動;

                2. 避免儀器置于過于潮濕的環境中;

                3.  插拔測頭時,應捏住活動外套沿軸線用力,不可旋轉測頭,以避 免損壞測頭電纜芯線。

                4.  油、灰塵的附著會使測頭線逐漸老化、斷裂,使用后應清除纜線上的污垢。

                5.    當儀器出現非正常現象時,請不要拆卸或調節任何固定裝配的零件,請交給廠家維修部門檢測、維修。



              鍍層測厚儀|光譜測厚儀|X-ray測厚儀|X熒光測厚儀|凃層膜厚儀----一六儀器

              X射線測厚儀測量精度的影響因素有哪些

              第二,在X射線測厚儀通過施加高壓釋放出X射線時,X射線途經環境的溫度濕度也會影響X射線對被測物體的測量。尤其是在熱軋的過程中,測量的空間大X射線途經的環境就比較大,當溫度高時,測量值減小,當溫度低時,測量值則增加。

              第三,在測量過程中,被測物體上,可能會有附著物,也會影響測量的精度。比如,在軋制生產中,測量的鋼板上可能會附著著水、油或者氧化物,這都會對X射線測厚儀的測量值造成影響,出現誤差。根據測定原理的不同,常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。另外,被測量的物體,可能會上下跳動,偏離測量時的位置,這種傾斜也會影響測量的精度。