北京三坐標(biāo)蔡司測(cè)量?jī)x代理承諾守信「北京一測(cè)」

蔡司三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)

觸發(fā)測(cè)頭

測(cè)點(diǎn)數(shù)目給了我們很清楚的指示，如果被測(cè)零件的測(cè)量要求中有關(guān)于圓度的測(cè)量需求，那需要使用掃描測(cè)頭。試想一下，如果1個(gè)圓的64個(gè)測(cè)點(diǎn)采用單點(diǎn)觸發(fā)式測(cè)頭來(lái)測(cè)量的話(huà)，其測(cè)量效率顯然是難以讓人接受的。從測(cè)量效率和合理性出發(fā)，事實(shí)上不僅是圓度，其它類(lèi)型的形狀公差測(cè)量都應(yīng)采用連續(xù)掃描測(cè)頭，否則難以準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)被測(cè)元素的形狀公差。

三軸聯(lián)動(dòng)與五軸聯(lián)動(dòng)

當(dāng)下個(gè)零件擺放到工作臺(tái)上，但其姿態(tài)方位與前一個(gè)零件不一致時(shí)，之前的測(cè)頭角度可能會(huì)不再適用。因此，在做批量測(cè)量時(shí)，我們對(duì)于零件的位置、姿態(tài)方位都有一定程度的要求。而對(duì)于五軸系統(tǒng)，這方面的要求會(huì)寬松得多，測(cè)頭的無(wú)級(jí)分度特性使得測(cè)頭能夠根據(jù)零件坐標(biāo)系的找正作出相應(yīng)調(diào)整，避免了出現(xiàn)測(cè)頭角度不適用的情形。

三坐標(biāo)測(cè)頭

光學(xué)測(cè)頭雖然有一些接觸式測(cè)頭無(wú)法提供的優(yōu)勢(shì)，但并無(wú)法完全替代接觸式測(cè)頭，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測(cè)頭。測(cè)球的各個(gè)部位都可以去接觸被測(cè)物體來(lái)采點(diǎn)，但光的傳播是沿直線的，我們無(wú)法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要L型測(cè)針的場(chǎng)合，接觸式測(cè)頭比光學(xué)測(cè)頭更方便。

沒(méi)有好的測(cè)頭，究竟怎么選擇還是取決于測(cè)量需求。在繁多的測(cè)頭種類(lèi)面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測(cè)頭，找到真正合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。