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              發布時間:2021-03-25 17:03  

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              數字ic后端設計(二)

              4.時鐘樹生成(CTS Clock tree synthesis) 。

              芯片中的時鐘網絡要驅動電路中所有的時序單元,所以時鐘源端門單元帶載很多,其負載很大并且不平衡,需要插入緩沖器減小負載和平衡。時鐘網絡及其上的緩沖器構成了時鐘樹。一般要反復幾次才可以做出一個比較理想的時鐘樹。---Clock skew.

              5. STA 靜態時序分析和后。

              時鐘樹插入后,每個單元的位置都確定下來了,工具可以提出GlobalRoute形式的連線寄生參數,此時對參數的提取就比較準確了。SE把.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態時序分析。主要包括:基本的RTL編程和,前端設計還可以包括IC系統設計、驗證(verification)、綜合、STA、邏輯等值驗證(equivalencecheck)。確認沒有時序違規后,將這來兩個文件傳遞給前端人員做后。對Astro 而言,在detail routing 之后,

              用starRC XT 參數提取,生成的E.V和.SDF文件傳遞給PrimeTime做靜態時序分析,那將會更準確。

              6. ECO(Engineering Change Order)。

              針對靜態時序分析和后中出現的問題,對電路和單元布局進行小范圍的改動.




              7. Filler的插入(pad fliier, cell filler)。

              Filler指的是標準單元庫和I/O Pad庫中定義的與邏輯無關的填充物,用來填充標準單元和標準單元之間,I/O Pad和I/O Pad之間的間隙,它主要是把擴散層連接起來,滿足DRC規則和設計需要。

              8. 布線(Routing)。

              Global route-- Track assign --Detail routing--Routing optimization布線是指在滿足工藝規則和布線層數限制、線寬、線間距限制和各線網可靠絕緣的電性能約束的條件下,根據電路的連接關系將各單元和I/OPad用互連線連接起來,這些是在時序驅動(Timing driven )的條件下進行的,保證關鍵時序路徑上的連線長度能夠。11等規范,不然,這芯片將無法和市面上的產品兼容,使它無法和其他設備聯機。--Timing report clear



              數字IC自動測試設備

              集成電路(Integrated Circuit,IC)測試是集成電路產業的一個重要組成部分,它貫穿IC設計、制造、封裝、應用的全過程。集成電路晶圓(Wafer Test)測試是集成電路測試的一種重要方法,是保證集成電路性能、質量的關鍵環節之一,是發展集成電路產業的一門支撐技術。而IC自動測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)是實現晶圓測試必不可少的工具。5、邏輯綜合――DesignCompiler驗證通過,進行邏輯綜合。 首先介紹數字IC自動測試設備的硬件系統設計架構,分析了板級子系統的硬件結構及功能。

              重點討論了數字IC自動測試設備中兩種關鍵的測試技術:邏輯功能測試和直流參數測量,在系統分析其工作原理和測試方法的基礎上,設計了硬件電路,并通過實驗平臺分別驗證了電路的測試功能。 在IC自動測試設備中,實現直流參數測量的模塊稱為參數測量單元(Parametric Measurement Unit,PMU)。PMU的測量方法有兩種,加壓測流和加流測壓。在IC生產流程中,IC多由專業IC設計公司進行規劃、設計,像是聯發科、高通、Intel等大廠,都自行設計各自的IC芯片,提供不同規格、效能的芯片給下游廠商選擇。為了驗證所設計的直流參數測試單元硬件電路,在的第四章介紹了一種構建簡單自動測試系統的驗證方法。




              針對一種DC-DC開關電源轉換芯片,首先詳細分析了該芯片各項參數的測試原理,設計了以MCU作為控制核心、集成2個PMU和其他一些硬件電路的簡單測試板;然后根據芯片的測試要求設計了流程控制程序;后,通過實驗驗證了測試板的PMU能夠滿足參數測量精度要求。 的后部分,詳細列出了直流參數測量單元驗證板對19片WAFER的測試統計數據。實驗表明,PMU模塊的電壓測試精度為0.5%以內,微安級電流的測試精度為5%以內,自動測試過程中沒有出現故障。似乎這些與狹義的數字電路設計不相關,但這恰恰公司降低成本的秘訣。驗證了PMU模塊能夠滿足數字IC自動測試設備的直流參數測試要求。


              驅動Ic綜合的過程有哪些?

              轉換:將HDL/VHDL的描述,轉換成獨立于工藝的寄存器傳輸級(RTL)網標,其中這些RTL模塊之間通過連線,實現互通互聯。


              映射:在綜合環境中,目標工藝庫(例如:TSMC40﹨TSMC22),將RTL級網標映射到目標工藝庫上面,形成門級網標。



              優化:設計人員添加相應的時序、面積約束。綜合器以滿足約束條件為目標,進行網標級別的優化。約束不同,然后得到的網標會不一樣,并且,DC的合成策略是時序優先,所以只有在滿足時序約束的基礎上,才會進行面積的優化。gcf約束文件以及定義電源Pad的DEF(DesignExchangeFormat)文件。如果經過優化,依然不能滿足時序要求,則在后面時序報告中,將會出現時序違例的路徑,在前端綜合過程中,我們一般只考慮建立時間(setup time)。設計人員需要分析時序違例的路徑,進行各種處理,直到滿足建立時間約束。


              瑞泰威驅動IC廠家,是國內IC電子元器件的代理銷售企業,專業從事各類驅動IC、存儲IC、傳感器IC、觸摸IC銷售,品類齊全,具備上百個型號。


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