鍍層膜厚儀性價(jià)比出眾

儀一六儀器 快速精準(zhǔn)分析膜厚儀穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),先進(jìn)的解譜方法，解決各種大小多層多元素的涂鍍層厚度分析，

微聚焦射線裝置:可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品,可測(cè)試各微小的部件.

測(cè)厚儀分類：

一、磁性式

二、渦電流式

三、紅外測(cè)厚儀

四、電解式（庫(kù)倫法）

五、金相測(cè)試法

六、非破壞熒光式（X光）

具體講下渦流測(cè)厚儀原理如下：

1.渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于高頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦liu產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。安裝前后應(yīng)做好如下工作：a安裝X射源的人員，應(yīng)先進(jìn)行專業(yè)yi療體檢，合格取證后才能進(jìn)行安裝工作。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

2.同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。

江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)，歡迎有各種涂鍍層、膜層的檢測(cè)難題來(lái)電咨詢！。

測(cè)厚儀

    測(cè)厚儀（thickness gauge ）是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。

介紹：測(cè)厚儀可以用來(lái)在線測(cè) 量軋制后的板帶材厚度，并以電訊號(hào)的形式輸出。第三,在測(cè)量過(guò)程中,被測(cè)物體上,可能會(huì)有附著物,也會(huì)影響測(cè)量的精度。該電訊號(hào)輸給顯示器和自動(dòng)厚度控制系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)板帶厚度的自動(dòng)厚度控制（AGC）。 目前常見(jiàn)的測(cè)厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機(jī)的出口或入 口側(cè)。設(shè)計(jì)、安裝測(cè)厚儀時(shí)要在可能的條件下盡量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯后調(diào)整時(shí)間。

江蘇一六儀器  X射線熒光光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠  一六儀器一liu品質(zhì)  可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,歡迎來(lái)電咨詢!

儀器規(guī)格：

   外形尺寸 ：550 mm x 660mm x 470 mm （長(zhǎng)x寬x高）

   樣品倉(cāng)尺寸 ：500mm×660 mm ×215mm （長(zhǎng)x寬x高）

   儀器重量 ：55kg

   供電電源 ：交流220±5V

  zui da功率 ：330W

   環(huán)境溫度：15℃-30℃

   環(huán)境相對(duì)濕度：<70%

常見(jiàn)幾種測(cè)厚儀的工作原理是什么？測(cè)厚儀，英文名稱為thickness gauge ，是一類用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度。那么我們常見(jiàn)的幾種測(cè)厚儀的工作原理是什么？下面就來(lái)了解下：

      1、測(cè)厚儀原理--激光測(cè)厚儀

      激光測(cè)厚儀：此類測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性價(jià)比X熒光測(cè)厚儀  

一六儀器研發(fā)生產(chǎn)的X熒光光譜儀,穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

性能優(yōu)勢(shì)：

   下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

   無(wú)損變焦檢測(cè):可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測(cè)面積小于0.002mm2的樣品，可測(cè)試各微小的部件。

   率的jie shou qi ：即使測(cè)試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

   EFP先進(jìn)算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

涂層測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些

 我們?cè)谑褂猛繉訙y(cè)厚儀時(shí)，如果不了解涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程，那么就很容易出現(xiàn)一些問(wèn)題，甚至嚴(yán)重的可能會(huì)對(duì)自身產(chǎn)生威脅，那么涂層測(cè)厚儀的操作規(guī)程有哪些，下面就來(lái)了解下先：

三、操作步驟

4. 判斷是否需要校準(zhǔn)儀器。如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行校 準(zhǔn)；

  5.  測(cè)量。將測(cè)頭垂直接觸工件的測(cè)量面，并輕壓測(cè)頭的加載套，當(dāng) 測(cè)頭與被測(cè)工件表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示標(biāo)識(shí)和測(cè)量值。如果測(cè)量標(biāo)識(shí)閃爍或無(wú)測(cè)量標(biāo)識(shí)則表示測(cè)頭不穩(wěn)定.移開(kāi)測(cè)頭后，測(cè)量標(biāo)識(shí)消失，厚度值保持。

  6.  儀器關(guān)機(jī)