連云港光譜測厚儀多重優惠 江蘇一六儀器

   江蘇一六儀器有限公司  專業鍍層測厚檢測   歡迎來電詳詢！ 

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定，通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規定量分析法相比較，被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關，而且與厚度直接相關。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法，具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速，方便，測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關企業作為過程控制和檢測使用。EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題鍍層厚度分析儀的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。是目前應用為廣泛，具有速度快、無損化以及可實現多鍍層同時分析等特點。

     江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名專家通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀

     X射線熒光光譜測厚儀原理

    一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷。而能量色散型，是由探測器本身的能量分辨本領直接探測X射線的能量。當較外層的電子躍遷到空穴時，所釋放的能量隨即在原子內部被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，此稱為俄歇效應，亦稱次級光電效應或無輻射效應，所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。

     它的能量是特征的，與入射輻射的能量無關。當較外層的電子躍入內層空穴所釋放的能量不在原子內被吸收，而是以輻射形式放出，便產生X射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，X射線熒光的能量或波長是特征性的，與元素有一一對應的關系。X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。 K層電子被逐出后,其空穴可以被外層中 任一電子所填充，從而可產生一系列的譜線，稱為K系譜線:由L層躍遷到K層輻射的X射線叫Kα射線,由M層躍遷到K層輻射的X射線叫Kβ射線……。

江蘇一六儀器    選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：

1、無損檢測

      鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。

2、強化品質管控

     X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據，這是做好電鍍品質管控的前提。

3、提升生產力

      傳統的檢測技術，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助，從而帶來更多的經濟效益。

4、提升市場競爭力

    X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力，也可以幫助電鍍企業在行業里保持excellent的競爭優勢。