秦皇島國產熒光光譜儀代理商承諾守信「泰科施普」

淺析熒光光譜

無論分子初處于哪一個激發單重態，通過內轉換及振動弛豫，均可返回到激發單重態的低振動能級，然后再以輻射形式發射光而返回至基態的任一振動能級上,這時發射的光稱為熒光。由于振動弛豫和內轉換損失了部分能童，故熒光的波長總比激發光波長要長。發射熒光的過程為 秒。由于電子返回基態時可以停留在基態的任一振動能級上，因此得到的熒光譜線有時呈現幾個非常靠近的峰。通過進一步振動弛豫，這些電子都很快地回到基態的低振動能級。

熒光分光光度計

熒光分光光度計是用于掃描液相熒光標記物所發出的熒光光譜的一種儀器。其能提供包括激發光譜、發射光譜以及熒光強度、產率、熒光壽命、熒光偏振等許多物理參數，從各個角度反映了分子的成鍵和結構情況。通過對這些參數的測定，不但可以做一般的定量分析。 熒光光譜法具有靈敏度高、選擇性強、用樣量少、方法簡便、工作曲線線形范圍寬等優點，可以廣泛應用于生命科學、醫學、藥學和藥理學、有機和無機化學等領域。

熒光光譜儀

X-射線熒光光譜儀是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。

波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF），是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器作同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據此進行定性和定量分析。該儀器產生于50年代，由于可以對復雜體系進行多組分同時測定，受到觀注，特別在地質部門，先后配置了這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。