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發布時間：2021-01-15 12:50
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一六 熒光測厚儀 十年以上研發團隊 集研發生產銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X射線熒光鍍層厚度分析儀基本原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求一次可同時分析多達五層鍍層度適應范圍為15℃至30℃鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）分析含量一般為2ppm到99。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。
由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。
江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區。我們專業的研發團隊具備十年以上的從業經驗，經與海內外多名通力合作，研究開發出一系列能量色散X熒光光譜儀
一六儀器 X熒光光譜測厚儀
鍍層分析X射線熒光光譜特點
1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數10S-1分鐘，分析精度高。
2.可測試超薄的鍍層。
3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。
4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準確的分析出合金鍍層的厚度。
5.對于樣品可進行連續多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復雜面進行測量。
6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區別
7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。
8.可以對樣品進行測試
9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發鍍層標樣
江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀 特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上先進的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為干擾因素，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種先進的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
江蘇一六儀器 選擇X熒光光譜鍍層檢測儀的四個理由：
1、無損檢測
鍍層工藝的高要求，讓楔切法、光截法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是excellent鍍層無損檢測方法。
2、強化品質管控
X熒光光譜鍍層檢測儀可以準確檢測鍍層的金屬含量及厚度等數據，這是做好電鍍品質管控的前提。
3、提升生產力
傳統的檢測技術，既耗時又耗人力，而X熒光光譜鍍層檢測儀可以很大程度上解放勞動力，且檢測速度快、精度高，這對提高電鍍企業生產力、節約成本有很大幫助，從而帶來更多的經濟效益。
4、提升市場競爭力
X熒光光譜鍍層檢測儀不但可以幫助電鍍企業提升勞動生產力，也可以幫助電鍍企業在行業里保持excellent的競爭優勢。
