數字電壓定義的行業須知“本信息長期有效”

IC產品的生命周期

典型的IC產品的生命周期可以用一條浴缸曲線（Bathtub Curve）來表示。Ⅰ Ⅱ ⅢRegion (I) 被稱為早夭期（Infancy period）

這個階段產品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設計和生產過程中的缺陷；需求層面：模擬類產品下游汽車、工業用途要求以可靠性、安全行為主，偏好性能成熟穩定類產品的同時資格認可相對較為嚴格，一般不低于一年半。Region (II) 被稱為使用期（Useful life period）在這個階段產品的failure rate保持穩定，失效的原因往往是隨機的，比如溫度變化等等；u Region (III) 被稱為磨耗期（Wear-Out period）在這個階段failure rate 會快速升高，失效的原因就是產品的長期使用所造成的老化等。認識了典型IC產品的生命周期，我們就可以看到，Reliability的問題就是要力圖將處于早夭期failure的產品去除并估算其良率，預計產品的使用期，并且找到failure的原因，尤其是在IC生產，封裝，存儲等方面出現的問題所造成的失效原因。下面就是一些 IC 產品可靠性等級測試項目（IC Product Level reliability testitems ）

一、使用壽命測試項目（Life test items）：EFR, OLT (HTOL), LTOL①EFR:早期失效等級測試（ Early fail Rate Test ）目的: 評估工藝的穩定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的產品。測試條件: 在特定時間內動態提升溫度和電壓對產品進行測試失效機制：材料或工藝的缺陷，包括諸如氧化層缺陷，金屬刻鍍，離子玷污等由于生產造成的失效。常見的失效模式包括塑料從芯片或引腳框上的內部分離(脫層)、金線焊接損傷、芯片損傷、和不會延伸到元件表面的內部裂紋等。

數字IC測試儀的研究

隨著集成電路技術的飛速發展,集成電路的測試技術已成為集成電路產業發展重要支撐之一,也是保證集成電路性能、質量的關鍵手段之一。目前,集成電路測試儀一般價格比較高,但在電子實驗室的實驗中經常需要測試中、小規模數字IC好壞,數字集成電路的測試又是一項經常性的工作,所以,自己設計一臺經濟實用的集成電路測試儀是非常必要的。綜合需要設定約束條件，就是你希望綜合出來的電路在面積，時序等目標參數上達到的標準。 

研究了國內外集成電路測試技術,提出了基于單片機系統的數字IC測試儀的設計,設計包括硬件系統設計和軟件系統設計。的重點是硬件系統電路設計。設計包括AT89C52單片機的選擇,可編程I/O接口,電源系統、鍵盤、復位電路,LED顯示接口CH451,計算機與單片機串行通信接口MAX232,測試插座接口,上位計算機等。硬件系統各功能單元電路的設計全部采用模塊化,每部分電路的選擇都經過比較和優化設計,便于以后硬件的升級。所以說質量（Quality）解決的是現階段的問題，可靠性（Reliability）解決的是一段時間以后的問題。 針對單片機電源電路帶負載能力的擴流和測試插座接口電路的設計及數字IC測試向量編碼方法等方面進行了改進,提高了硬件系統的可靠性,簡化了軟件編程,并借助EDA技術進行了驗證。

數字IC自動測試設備

集成電路(Integrated Circuit,IC)測試是集成電路產業的一個重要組成部分,它貫穿IC設計、制造、封裝、應用的全過程。集成電路晶圓(Wafer Test)測試是集成電路測試的一種重要方法,是保證集成電路性能、質量的關鍵環節之一,是發展集成電路產業的一門支撐技術。而IC自動測試設備(Automatic Test Equipment,ATE)是實現晶圓測試必不可少的工具。常使用的HDL有Verilog、VHDL等，藉由程序代碼便可輕易地將一顆IC地菜單達出來。 首先介紹數字IC自動測試設備的硬件系統設計架構,分析了板級子系統的硬件結構及功能。

重點討論了數字IC自動測試設備中兩種關鍵的測試技術:邏輯功能測試和直流參數測量,在系統分析其工作原理和測試方法的基礎上,設計了硬件電路,并通過實驗平臺分別驗證了電路的測試功能。 在IC自動測試設備中,實現直流參數測量的模塊稱為參數測量單元(Parametric Measurement Unit,PMU)。PMU的測量方法有兩種,加壓測流和加流測壓。南橋芯片在靠近ISA和PCI槽的位置，芯片的名稱為Intel82371EB。為了驗證所設計的直流參數測試單元硬件電路,在的第四章介紹了一種構建簡單自動測試系統的驗證方法。

針對一種DC-DC開關電源轉換芯片,首先詳細分析了該芯片各項參數的測試原理,設計了以MCU作為控制核心、集成2個PMU和其他一些硬件電路的簡單測試板;然后根據芯片的測試要求設計了流程控制程序;后,通過實驗驗證了測試板的PMU能夠滿足參數測量精度要求。 的后部分,詳細列出了直流參數測量單元驗證板對19片WAFER的測試統計數據。其中IC系統設計難掌握，它需要多年的IC設計經驗和熟悉那個應用領域，就像軟件行業的系統架構設計一樣，而RTL編程和軟件編程相當。實驗表明,PMU模塊的電壓測試精度為0.5%以內,微安級電流的測試精度為5%以內,自動測試過程中沒有出現故障。驗證了PMU模塊能夠滿足數字IC自動測試設備的直流參數測試要求。

集成電路Ic

集成電路芯片，簡稱為IC；說白了，便是把一定總數的常見電子元器件，如電阻器、電容器、晶體三極管等，及其這種元器件中間的聯線，根據半導體材料加工工藝集成化在一起的具備特殊作用的電源電路。

集成電路芯片早已在各個領域中充分發揮著十分關鍵的功效，是當代信息社會的根基。在桌上用100個小珠子排成一個10×10的正方形，并且剪裁一張紙蓋在珠子上，接著用小刷子把旁邊的的珠子刷掉，后使他形成一個10×5的長方形。集成電路芯片的含意，早已遠遠地超出了其剛問世時的界定范疇，但其關鍵的一部分，依然沒有更改，那便是“集成化”，其所衍化出去的各種各樣課程，大多數是緊緊圍繞著“集成化哪些”、“怎樣集成化”、“如何處理集成化產生的利與弊”這三個難題來進行的。