四川納克光譜儀公司推薦廠家「多圖」

鋼研納克SparkCCD7000

高分辨率 CCD 檢測器

像素數：3648 46 全行業較高

像素尺寸：8μm 全行業較小

精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量 N

萬級超凈環境下打造較優光學系統

帕邢 - 龍格結構羅蘭光學系統，無像差，分辨率均勻

高發光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業較高

線分辨率 0.7407nm/mm

像素分辨率 0.005926nm

譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）

智能控制系統，再啟動耗時行業較低

潮汐式沖洗方式，冷機（關機 12 小時）啟動只需 30min，熱機啟動時間 5min

智能判斷分析間隔時間，合理補充氣，降低氣消耗

60ml/min 超低待機流量，一瓶氣 24 小時待機 70 天

分片式曝光，痕量元素識別強度大幅提高，檢出限更低

一次激發，分片曝光，同時采集，同時回數

獨立控制不同 CCD 的積分曝光時間

提升痕量元素的強度，降低儀器的檢出限

隨波段調節積分時間，提升儀器的 穩定性

由中國72家鑄造協會/學會聯手打造的第十六屆中國國際鑄造博覽會The

16th China International Foundry Expo (metal China)于2018年5月16-19日在北京順義新國展博覽中心成功舉辦。展商和觀眾來自中國、德國、美國、巴西、俄羅斯、日本、印度、西班牙等80多個國際和地區，展商數量超過1300家，觀眾超10萬人次。本次展會得到同行業、學者及技術人員的高度評價。

鋼研納克在本博覽會上集中展示了SparkCCD

6000型全譜火花直讀光譜儀、CSONH氣體分析儀、Plasma 3000型雙向觀測全譜電感耦合等離子體光譜儀、力學試驗機等分析儀器，吸引了國內外眾多參展人員，受到、學者的一致好評。

直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？

1)系統誤差也叫可測誤差，一般包括儀器的本身波動；樣品的給定值和實際值存在一定的偏差（標準樣品的元素定值方法可能和實際檢測方法不一致，這樣檢測結果會有方法上的差異；同一種方法的檢測結果也存在一定的波動）；待測樣品和系列標樣之間存在成分的差異，可能導致在蒸發、解離過程中的誤差，如背景強度的差別和基體蒸發的差異等。

2)偶然誤差是一種無規律性的誤差，如試樣不均勻；檢測時周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。

3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結果，可以避免。如制樣不準確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測試樣存在制樣偏差，選擇了錯誤的分析程序等。