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              膜厚測試儀值得信賴 江蘇一六儀器有限公司

              發布時間:2020-12-09 09:38  

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              一六儀器 專業測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法  X射線熒光鍍層測厚儀

              應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業界難題

               在我們的售前服務工作中,客戶通常都會拿一些在其它機構或者儀器測量過的樣品來與我們儀器進行測試結果對比,在確認雙方儀器都是正常的情況下,會存在或多或少的差異,那么我們務必要把這個差異的來源分析給客戶,我們在分析之前首先要給客戶解說測試的基本原理,告知此儀器為對比分析測試儀器,然后再談誤差來源,主要來源:


                1、標樣:對比分析儀器是要求有越接近于需測試樣品的標樣,測試結果越接近實際厚度。確認雙方有沒有在標定和校正時使用標樣?使用的是多少厚度的標樣?

              2、樣品材料的詳細信息:如Ni/Cu的樣品,如果一家是按化學Ni測試,一家是按純Ni測試;Au/Ni/Cu/PCB樣品,一款儀器受Br干擾,一款儀器排除了Br干擾。

                 3、測量位置、面積:確定在同一樣品上測試的是否同一位置,因為樣品在電鍍時因電位差不同,各部位厚度是有差異的;確認兩款儀器測量面積的大小有多少差異。

              4、樣品形狀:測量的樣品是否是兩款儀器都可測量,或者放置位置是否合適,如突出面有無擋住設備接收。



              江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發、生產、銷售的高新技術企業。 

              能量色散X射線熒光光譜儀廣泛應用于電子元器件、LED和照明、家用電器、通訊、汽車電子等制造領域。   

              光譜分析儀可以說是檢測儀器中的“超能先生”,在生物、能源環境、食品安全等領域都能看到它的身影。以食品檢測為例,常買糧食的朋友應該都知道,零食的包裝上有一個營養成分表,用來向消費者展示食品中的熱量、脂肪、蛋白質、碳水化合物、鈉等主要營養成分的含量,而這些數據的獲得就離不開光譜分析儀。儀器通過對物品材料發散近紅外線,活躍材料中的分子,通過分子振動反射的光纖,根據光線的獨特光學特征識別,由此確認材料的化學成分組成。因此,X射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。

                我們身邊的儀器遠不止此,或許正如動畫中超人也有自己辦不到的事,科學儀器功能也有限,但相對的,儀器都有各自發光發熱的領域。不同的儀器在不同的領域各司其職,守護人類健康,為人類發展出力。

              工業時代的科技是現代科技,科技是國之利器,國家要強大、人民生活要不斷改善,必須依托于強大科技??茖W儀器在我國科技發展中起到的重要作用是不容忽視的,希望未來能夠看到更多拔萃的科學儀器為我國科技發展做出貢獻。



              江蘇一六儀器   X熒光鍍層測厚儀  一六儀器、一liu品質!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯系!

              1X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管,Be窗標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標準75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

              2濾光片程控交換系統根據靶材,標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統二次X射線濾光片:3個位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置,防止樣品碰創探測器窗口

              3準直器程控交換系統多可同時裝配6種規格的準直器,程序交換控制多種規格尺寸準直器任選:-圓形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

              4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準直器)在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準直器)

              5X射線探測系統封氣正比計數器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

              6樣品室CMI900CMI950-樣品室結構開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標準:152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時,152.4mmXY軸手動時,269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制


              江蘇一六儀器   X熒光光譜測厚儀 特點

              快速:1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,并達到測量精度要求。

              方便:X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上先進的電制冷半導體探測器,能量分辨率更優于135eV,測試精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期補充液氮,操作使用更加方便,并且運行成本比同類的其他產品更低。

              無損:測試前后,樣品無任何形式的變化。

              直觀:實時譜圖,可直觀顯示元素含量。

              測試范圍廣:X熒光光譜儀,是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。

              可靠性高:由于測試過程無人為干擾因素,儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以,其測量的可靠性更高。

              滿足不同需求:測試軟件為WINDOWS操作系統軟件,操作方便、功能強大,軟件可監控儀器狀態,設定儀器參數,并就有多種先進的分析方法,工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

              性價比高:相比化學分析類儀器,X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的,可以讓更多的企業和廠家接受。

              簡易:對人員技術要求較低,操作簡單方便,并且維護簡單方便。