鍍層測厚儀量大從優(yōu)【一六儀器】

發(fā)布時間：2020-12-28 16:50

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江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高新技術(shù)企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗，經(jīng)與海內(nèi)外多名專家通力合作，研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀

一六儀器 X熒光光譜測厚儀

鍍層分析X射線熒光光譜特點

1.鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘，分析精度高。

2.可測試超薄的鍍層。

3.可測試多鍍層，分析精度遠遠高于其他測量方法。

4.可分析合金鍍層厚度。如果合金鍍層成分穩(wěn)定，選擇合適的對比分析樣品，就可以準(zhǔn)確的分析出合金鍍層的厚度。

5.對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況，并可以對樣品的復(fù)雜面進行測量。

6.對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別

7.不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過40微米。

8.可以對樣品進行測試

9.屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同發(fā)鍍層標(biāo)樣

江蘇一六儀器 X熒光鍍層測厚儀一六儀器、一liu品質(zhì)!各種涂鍍層、膜層的檢測難題歡迎咨詢聯(lián)系！

1X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV，0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn)75W(4-50kV，0-1.5mA)-任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘

2濾光片程控交換系統(tǒng)根據(jù)靶材，標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)二次X射線濾光片:3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器，程序交換控制多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選:-圓形，如4、6、8、12、20mil等-矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸小至為:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm準(zhǔn)直器)在12.7mm聚焦距離時，測量斑點尺寸大至為:0.38x0.42mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

5X射線探測系統(tǒng)封氣正比計數(shù)器裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6樣品室CMI900CMI950-樣品室結(jié)構(gòu)開槽式樣品室開閉式樣品室-樣品臺尺寸610mmx610mm300mmx300mm-XY軸程控移動范圍標(biāo)準(zhǔn):152.4x177.8mm任選:50.8mmx152.4mm50.4mmx177.8mm101.6x177.8mm177.8x177.8mm610mmx610mm300mmx300mm-Z軸程控移動高度43.18mmXYZ程控時，152.4mmXY軸手動時，269.2mm-XYZ三軸控制方式多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

江蘇一六儀器專業(yè)涂鍍層研發(fā)、生產(chǎn)、銷售高新技術(shù)企業(yè)。其中穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)、先進的解譜方法和EFP算法結(jié)合精準(zhǔn)定位及變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計，解決了各種大小異形、多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題。

單鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

雙鍍層：Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三鍍層：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu, Au/Ni/Cu/Fe,等等

一、功能

1. 采用 X 射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足

GB/T 16921-2005 標(biāo)準(zhǔn)（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2. 鍍層層數(shù)：多至 5 層。

3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約 0.2—0.8毫米。

4. 測量時間：通常 30 秒。

5. 測量誤差：通常小于 5%，視樣品具體情況而定。

6. 可測厚度范圍：通常 0.01 微米到 30 微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。