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              MCPD反射率測試來電咨詢【大塚電子】

              發(fā)布時間:2020-12-27 13:53  

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              保證測厚儀質(zhì)量的方法:

              要保證設(shè)備的質(zhì)量,不僅要保證設(shè)備的質(zhì)量,而且要注意使用時的操作標(biāo)準。專業(yè)用戶必須保證操作的準確性。在操作過程中,要注意儀器的及時保養(yǎng)。


              分光光譜儀種類量測波長范圍MCPD-9800:高動態(tài)范圍型360~1100 nmMCPD-3700:紫外/可視/近紅外光型220~1000 nmMCPD-7700:高感度型220~1100 nm

              平面顯示器模組量測平面顯示器(FPD)模組、液晶顯示器(LCD)模組、電漿顯示器(PDP)模組、CRT顯示器、OLED面板


              影響膜厚測量儀的因素


              基體金屬電性質(zhì)

              基體金屬的導(dǎo)電性對測量有影響,而基體金屬的導(dǎo)電性與材料成分和熱處理方法有關(guān)。使用與樣品金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準膜校準儀器。

              基體金屬厚度

              每個儀器具有賤金屬的臨界厚度。大于此厚度,測量不受基體金屬厚度的影響。


              曲率

              試樣的曲率對測量有影響。這種效應(yīng)總是隨著曲率半徑的減小而增加。因此,測量彎曲試樣的表面是不可靠的。





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