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              國產(chǎn)ICP光譜儀供貨商誠信企業(yè)推薦「吉天儀器」

              發(fā)布時間:2021-08-29 03:54  

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              ICP光譜儀的優(yōu)點

              1. 檢出限低。  一般可達0.1~1ug·g-1,值可達10-8~10-9g。用電感耦合等離子體(icp)新光源,檢出限可低至 數(shù)量級。

              2. 用icp光源時,準確度高,標準曲線的線性范圍寬,可達4~6個數(shù)量級。可同時測定高、中、低含量的不同元素。因此icp-aes已廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域之中。

              3. 樣品消耗少,適于整批樣品的多組分測定,尤其是定性分析更顯示出獨特的優(yōu)勢。






              使用ICP光譜儀環(huán)境很重要

              如果室內(nèi)濕度過大,ICP光譜分析儀中的光學(xué)元件、光電元件、電子元件等受到潮濕后,易發(fā)生銹蝕、霉變等現(xiàn)象導(dǎo)致儀器接觸不良、性能下降,甚至報廢。某種元素在物質(zhì)中的含量達10^-10(10的負10次方)克,就可以從光譜中發(fā)現(xiàn)它的特征譜線,因而能夠把它檢查出來。潮濕的環(huán)境還容易使儀器的絕緣性能變差,產(chǎn)生不安全的因素。例如在ICP光譜分析儀光學(xué)系統(tǒng)里光柵因濕度過大容易受潮發(fā)毛燒壞出現(xiàn)電容打火、高頻發(fā)生器使等離子體不容易點燃等現(xiàn)象,嚴重時還會發(fā)生高壓電源和高壓電路放毀元件導(dǎo)致高頻發(fā)生器損害,如功率管被擊穿,輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等。






              ICP光譜儀的校正

              光學(xué)系統(tǒng)校正

              在PROFILE儀器中,操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時完全校正光學(xué)系統(tǒng)。如果實驗室環(huán)境溫度變化較大,不能保證工作條件,可能造成測量結(jié)果數(shù)據(jù)漂移。

              光學(xué)系統(tǒng)校正使用燈,選擇Hg8線(波長253.652nm),儀器內(nèi)部裝有燈,只要按照操作規(guī)程操作即可。

              等離子體位置校正

              等離子體位置校正的目的是將光源對準光學(xué)系統(tǒng)。通常在重新裝配進樣系統(tǒng)后,點燃等離子體,用Mn溶液(10ug/mL)校正。

              在等離子體位置校正過程中,值得注意的是:確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進入并形成氣溶膠進入等離子體。如果上述條件沒有滿足,可能造成校正失敗。