浙江電容測微儀免費咨詢,善測科技

1981年美國IBM公司研制成功的掃描隧道顯微鏡(STM)，將人們帶到了微觀世界。STM具有極高的空間分辨率(平行和垂直于表面的分辨率分別達到0.1?nm和0.01?nm，即可分辨出單個原子)，廣泛應用于表面科學、材料科學和生命科學等研究領域，在一定程度上推動了納米技術的產生和發(fā)展。與此同時，基于STM相似原理與結構，相繼產生了一系列利用探針與樣品的不同相互作用來探測表面或界面在納米尺度上表現出來性質的掃描探針顯微鏡(SPM)，用來獲取通過STM無法獲取的有關表面結構和性質的各種信息。尺寸和形位精度可用電子測微儀、電感測微儀、電容測微儀、自準直儀和激光干涉儀來測量。